[发明专利]一种晶体矿物的透光率检测装置

摘要

本发明公开了一种晶体矿物的透光率检测装置，包括直流电源、第一发光二极管至第五发光二极管、第一电阻至第六电阻、时基集成芯片、与非门芯片、光敏电阻、第一电容、第二电容、电位器和二极管，将待检测的晶体矿物质防止与第一发光二极管与光敏电阻之间，第一发光二极管的光穿过晶体矿物后照射到光敏电阻上，光敏电阻的阻值改变，从而使时基集成芯片触发与非门芯片控制第二发光二极管至第五发光二极管的点亮个数，点亮个数越多，证明晶体矿物的透光率越高，反之越低。与现有技术相比，本发明采用电子仪器对晶体矿物进行透光度检测，通过光感应而实现，检测快速，检测结果精确而便于观察，使用方便，具有推广应用的价值。

主权项

一种晶体矿物的透光率检测装置，其特征在于：包括直流电源、第一发光二极管至第五发光二极管、第一电阻至第六电阻、时基集成芯片、与非门芯片、光敏电阻、第一电容、第二电容、电位器和二极管，所述直流电源的正极同时与所述第一发光二极管的正极、所述光敏电阻的第一端、所述电位器的第一端、所述时基集成芯片的第四引脚、所述时基集成芯片的第八引脚和所述第三电阻至第六电阻的第一端连接，所述直流电源的负极同时与所述第一发光二极管的负极、所述第一电容的第一端、所述第二电容的第一端和所述时基集成芯片的第一引脚连接，所述第一电容的第二端同时与所述第二电阻的第一端、所述二极管的负极、所述时基集成芯片的第二引脚和第六引脚连接，所述第二电容的第二端与所述时基集成芯片的第五引脚连接，所述二极管的正极同时与所述第二电阻的第二端、所述光敏电阻的第二端、所述第一电阻的第一端和所述时基集成芯片的第七引脚连接，所述第一电阻的第二端同时与所述电位器的第二端和滑动端连接，所述时基集成芯片的第三引脚与所述与非门芯片的信号输入端连接，所述与非门芯片的四个信号输出端分别与所述第二发光二极管至第五发光二极管的负极连接，所述第二发光二极管至第五发光二极管的正极分别与所述第三电阻至第六电阻的第二端连接。