[发明专利]一种利用激光成像及投影的微小颗粒计数的系统在审
| 申请号： | 201410686125.4 | 申请日： | 2014-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN105699275A | 公开（公告）日： | 2016-06-22 |
| 发明（设计）人： | 杨杰;李正江;郭文桢;王可超 | 申请（专利权）人： | 新乡天翼过滤技术检测有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/10 | 分类号： | G01N15/10;G01N15/02 |
| 代理公司： | 广州天河互易知识产权代理事务所(普通合伙) 44294 | 代理人： | 张果达 |
| 地址： | 453000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种利用激光成像及投影的微小颗粒计数的系统，采用X轴和Y轴两个激光测试头固定或可以随介质同速率沿Z轴移动，激光和颗粒相对静止，避免运动带来误差；在X轴的投影，在Y轴方向上的投影会有重叠和叠加，同样在Y轴方向上的投影也会在X轴方向上有重叠和叠加，而采用双激光头测试头后，可以利用软件对这些颗粒位置进行分析计算，去除重叠颗粒和叠加颗粒带来误差，使计数和颗粒粒径更准确，被测介质速度在一定范围内是,激光测试头固定或激光测试头与被测介质同速移动,相对是静止的，高倍数的两个方向的立体成像给散射及重叠和叠加进行进一步的验证分析，使数据更科学可信。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 激光 成像 投影 微小 颗粒 计数 系统 | ||
【主权项】：
一种利用激光成像及投影的微小颗粒计数的系统，其特征在于，包括沿X轴方向照射的第一激光源以及沿Y轴方向照射的第二激光源，所述第一激光源以及第二激光源分别与计数装置中的线路板以及芯片连接，还包括沿Z轴方向的规则通道，所述规则通道内设置有微小颗粒介质，所述第一激光源以及第二激光源固定或随着规则通道内的介质流动而运动，保持速率一致。
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