[发明专利]一种显示基板、其测试方法及制备方法有效
申请号: | 201410692290.0 | 申请日: | 2014-11-25 |
公开(公告)号: | CN104362156A | 公开(公告)日: | 2015-02-18 |
发明(设计)人: | 蔡振飞;陈健;徐朝换;陈正伟 | 申请(专利权)人: | 合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L23/544;H01L21/66 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 230011 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种显示基板、其测试方法及制备方法,显示基板中第一测试端子与第一薄膜晶体管的栅极相连,第二测试端子分别与第一薄膜晶体管的源极和第二薄膜晶体管的漏极相连,第三测试端子与第二薄膜晶体管的栅极相连,第四测试端子分别与第一薄膜晶体管的漏极和所述第二薄膜晶体管的源极相连,对上述显示基板进行测试时,显示基板旋转180度前后第一探针对第一测试端子和第三测试端子加载的栅极电压信号相同;第二探针对第二测试端子和第四测试端子加载的数据信号相同。相较于现有技术中显示基板的测试,本发明实施例提供的显示基板无需改变探针的位置和加载的信号,就可以完成对显示基板的测试,避免了显示基板测试过程繁琐耗时的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 显示 测试 方法 制备 | ||
【主权项】:
一种显示基板,具有至少一个测试区,其特征在于,在所述测试区内包括:大小和极性相同的第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管、第一测试端子、第二测试端子、第三测试端子和第四测试端子;其中,所述第一测试端子与所述第一薄膜晶体管的栅极相连,所述第二测试端子分别与所述第一薄膜晶体管的源极和所述第二薄膜晶体管的漏极相连,所述第三测试端子与所述第二薄膜晶体管的栅极相连,所述第四测试端子分别与所述第一薄膜晶体管的漏极和所述第二薄膜晶体管的源极相连。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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