[发明专利]基于Y分支相位调制器温度特性的集成式闭环温度测量方法

摘要

本发明提供了一种基于Y分支相位调制器温度特性的集成式闭环温度测量方法，属于光纤萨格奈克干涉仪技术领域。本方法首先关闭光纤萨格奈克干涉仪中的温度闭环调整，通过手动调整温度补偿值使得温漂产生的电压差为零；然后打开光纤萨格奈克干涉仪中的温度闭环调整，测量不同温度下的补偿值A；再通过线性拟合方法获取温度T和补偿值A的线性关系；最后利用得到的线性关系式计算实际温度。本发明基于光纤萨格奈克干涉仪的原有结构，不需要添加额外的温度敏感器件，即可测量光纤萨格奈克干涉仪的温度，且测量范围大，敏感性高，既有较高的可靠性，也降低了光纤萨格奈克干涉仪整体的体积和功耗。

主权项

一种基于Y分支相位调制器温度特性的集成式闭环温度测量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：关闭光纤萨格奈克干涉仪中信号处理装置对温度的闭环调整，通过手动调整温度补偿值使得温漂产生的电压差为零，此时获得温度补偿的初始值A₀；步骤2：打开光纤萨格奈克干涉仪中信号处理装置对温度的闭环调整，测量不同温度T下的补偿值A，其中A＝A₀+ΔA；ΔA为温度补偿的漂移量，由信号处理装置中的温度漂移解调单元计算得到；步骤3：温度T和补偿值A的关系表达为：T＝k·A+b，k和b为实数；利用步骤2得到的温度T和补偿值A，通过线性拟合方法获得k和b；步骤4：应用时，将得到的补偿值A代入已知k和b的公式T＝k·A+b中，获得实际温度T。