[发明专利]一种低温扫描激光显微镜的光学系统在审

专利信息
申请号: 201410694429.5 申请日: 2014-11-27
公开(公告)号: CN104374778A 公开(公告)日: 2015-02-25
发明(设计)人: 王华兵;周宪靖;袁洁;吴培亨 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 邱兴天
地址: 210093 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种扫描激光显微镜的光学系统,包括激光器、环行器、光电探测器、光纤和渐变折射率棱镜;所述的激光器、光电探测器和光纤均与环行器相连,所述的渐变折射率棱镜与光纤相连。该扫描激光显微镜的光学系统,使用环形器和渐变折射率棱镜,有效地减小了光学系统复杂度和相应的体积,便于集成在扫描激光器显微镜内部,用于扫描激光显微镜中,从而能够研究小尺寸、对工作温度有具体要求的器件内部发生的热学和电学相关的物理现象,满足使用需求。
搜索关键词: 一种 低温 扫描 激光 显微镜 光学系统
【主权项】:
一种扫描激光显微镜的光学系统,其特征在于:包括激光器(1)、环行器(2)、光电探测器(3)、光纤(4)和渐变折射率棱镜(5);所述的激光器(1)、光电探测器(3)和光纤(4)均与环行器(2)相连,所述的渐变折射率棱镜(5)与光纤(4)相连。
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