[发明专利]一种微调刻蚀深度空间分布的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201410696919.9 申请日: 2014-11-26
公开(公告)号: CN104409308A 公开(公告)日: 2015-03-11
发明(设计)人: 吴丽翔;邱克强;付绍军 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;贾玉忠
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种微调刻蚀深度空间分布的方法和系统。所述方法包括离子束刻蚀工作流程和运动轨迹计算方法,由于是在以均匀刻蚀的方式加工工件的同时对工件刻蚀深度空间分布进行动态微调,这避免了后续精加工的工序,因此可大大节省工作时间和加工成本。所述系统包括运动控制系统和扫描装置,其中,运动控制系统包括上位机运动控制单元和运动控制箱,扫描装置包括叶片扫描组件和束宽修正双滑门组件。该系统采用模块化设计,可方便集成到不同的离子束刻蚀设备中。
搜索关键词: 一种 微调 刻蚀 深度 空间 分布 方法 系统
【主权项】:
一种微调刻蚀深度空间分布的方法,其特征在于:包括离子束刻蚀工作流程和运动轨迹计算方法;所述离子束刻蚀工作流程的步骤包括:1)束流检测,观察束流强度分布是否稳定,待稳定后才能进行下一步工作;2)刻蚀前束流强度分布测量;3)将上一步的束流强度分布测量结果用于再次优化运动轨迹;4)在再次优化运动轨迹的同时开始扫描装置运行调试和工件平台运行调试;5)同步控制扫描装置运行和工件平台运行;6)刻蚀后束流强度分布测量;所述运动轨迹计算方法的步骤包括:1)载入设计要求的刻蚀深度空间分布数据;2)规划扫描路径,看规划后的刻蚀深度偏差是否满足设计要求,达到要求后方能进入下一步;3)计算驻留时间;4)优化运动轨迹,看优化后运动轨迹精度是否足够,若已达标,进入下一步,否则要多次优化直到精度达到要求;5)输出电机运行参数表。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学技术大学,未经中国科学技术大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410696919.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top