[发明专利]用于超薄石英基片薄膜电路的图形电镀方法有效
申请号: | 201410698402.3 | 申请日: | 2014-11-26 |
公开(公告)号: | CN104465501A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 王凯;吴恒奎 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 龚燮英 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种用于超薄石英基片薄膜电路的图形电镀方法,包括:将承载基片的上表面局部制备金属薄膜区作为电镀连通区;将超薄石英基片上表面制备金属薄膜作为待图形电镀面,与承载基片形成临时键合体;在待图形电镀面上形成键合区和图形化光刻胶区,将该键合区与电镀连通区通过金丝导通;电镀加厚金属电极层和保护金属层;去除所述金丝,将图形化光刻胶剥离干净,保护所述电镀连通区,将未电镀加厚区域的金属层刻蚀干净,再去除所述保护金属层;将所述超薄石英基片与所述承载基片分离。采用上述方案,可以在超薄石英基片上进行高精度线宽/线间距薄膜电路图形的电镀操作,而且导带尺寸能够精确控制,工艺简单易行,成本低廉,良品率高。 | ||
搜索关键词: | 用于 超薄 石英 薄膜 电路 图形 电镀 方法 | ||
【主权项】:
一种用于超薄石英基片薄膜电路的图形电镀方法,其特征在于,包括:将承载基片的上表面进行抛光,并在抛光面的局部制备金属薄膜区作为电镀连通区;将超薄石英基片双面抛光,在其上表面制备金属薄膜作为待图形电镀面,下表面通过光刻胶湿膜与所述承载基片的抛光面上未制备金属薄膜的区域粘接形成临时键合体;通过涂覆光刻胶、前烘、曝光、显影及后烘,在所述临时键合体的待图形电镀面上形成键合区和图形化光刻胶区,并将该键合区与所述电镀连通区通过金丝导通;在该临时键合体上先后电镀加厚金属电极层和保护金属层;去除所述金丝,将图形化光刻胶剥离干净,保护所述电镀连通区,将未电镀加厚区域的金属层刻蚀干净,再去除所述保护金属层;将所述超薄石英基片与所述承载基片分离。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410698402.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造