[发明专利]一种校准激光测径仪的方法

摘要

本发明提供一种校准激光测径仪的方法，其采用了成套检具，所述成套检具包括激光测径仪、标准检具、V型架和工作平台，其中激光测径仪固定在工作平台上，将V型架竖直安装在在激光测径仪的测量区域内，标准检具呈标准圆柱状置于开有间隙的V型架上，标准检具的圆柱面作为工作面，标准检具的放置方向为水平方向并与激光测径仪发出的片状扫描平行光束垂直，扫描平行光束通过V型架上的间隙照射到标准检具时，被截断的平行光束顶部和底部的距离将被激光测径仪光电收集端识别，从而得到标准检具的直径，然后根据每个校准点测得的平均值判断激光测径仪是否合格。采用本发明提供的校准方法，可以有效的对4050G型激光测径仪进行线性误差和复现性误差的周期校准，校准准确率高。

主权项

一种校准激光测径仪的方法，其特征在于采用以下具体步骤：（1）成套检具的准备：成套检具包括激光测径仪（1）、标准检具（2）、开有间隙的V型架（3）和工作平台（4），其中激光测径仪（1）固定在工作平台（4）上，将V型架（3）竖直安装在在激光测径仪（1）的测量区域（6）内，标准检具（2）呈标准圆柱状置于开有间隙的V型架（3）上，标准检具（2）的圆柱面作为工作面，标准检具（2）的放置方向为水平方向并且与与激光测径仪（1）发出的扫描平行光束（5）垂直；（2）标准检具（2）的准备：根据激光测径仪（1）的测量范围，将标准检具（2）设计成若干个不同的规格，每个规格作为一个校准点；（3）开始第一个校准点的校准工作：选取第一个校准点的标准检具（2），在环境温度为19.5‑20.5℃之间时接通激光测径仪（1）的电源，通过按键和触摸显示屏的控制使激光测径仪（1）发出扫描平行光束（5），扫描平行光束（5）通过标准检具（2）时，被截断的平行光束顶部和底部的距离将被激光测径仪光电收集端识别，形成阶跃信号，阶跃宽度及位置决定了被测物体的直径，从而得到标准检具（2）的直径；将该校准点测量两次以上，取平均值作为该校准点的校准结果，该校准结果与标准检具标称值的差值不大于激光测径仪（1）的线性误差时视为该校准点合格；（4）重复步骤（3）开始第二个至最后一个校准点的校准工作，即完成所有校准点的校准工作；（5）判断激光测径仪（1）是否合格：当所有校准点的误差分别小于激光测径仪（1）的线性误差时，则视为激光测径仪（1）处于合格状态。