[发明专利]影像感测装置与缺陷像素检测与补偿方法有效
| 申请号： | 201410705158.9 | 申请日： | 2014-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN105704405B | 公开（公告）日： | 2018-12-11 |
| 发明（设计）人： | 林俊宏 | 申请（专利权）人： | 晶相光电股份有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/367 | 分类号： | H04N5/367 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国 |
| 地址： | 中国台湾新竹市科学*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种影像感测装置与缺陷像素检测与补偿方法，本发明的少量行缓冲器需求的影像感测装置，其中一逻辑电路根据感测元件阵列感测的第n行感测数据、以及多条行缓冲器所储存的数据，寻出第n行感测数据的缺陷像素候选所在，以于该感测元件阵列提供第(n+p)行感测数据时，根据第(n+p)行感测数据以及上述多条行缓冲器所储存的数据，复核该第n行感测数据上的缺陷像素候选，以进行补偿。该感测元件阵列提供第n行感测数据时，上述多条行缓冲器储存第(n‑p)行感测数据至第(n‑1)行感测数据。该感测元件阵列提供该第(n+p)行感测数据时，上述多条行缓冲器储存第n行感测数据至第(n+p‑1)行感测数据。 | ||
| 搜索关键词： | 影像 装置 缺陷 像素 检测 补偿 方法 | ||
【主权项】：
1.一种影像感测装置，其特征在于，包括：多条行缓冲器；以及一逻辑电路，根据一感测元件阵列所感测的一第n行感测数据、以及所述多条行缓冲器所储存的数据，寻出所述第n行感测数据的缺陷像素候选所在，以于所述感测元件阵列提供一第(n+p)行感测数据时，根据所述第(n+p)行感测数据以及所述多条行缓冲器所储存的数据，复核所述第n行感测数据上的缺陷像素候选，以进行补偿；其中：n与p为数字；所述感测元件阵列提供所述第n行感测数据时，所述多条行缓冲器储存一第(n‑p)行感测数据至一第(n‑1)行感测数据；且所述感测元件阵列提供所述第(n+p)行感测数据时，所述多条行缓冲器储存所述第n行感测数据至一第(n+p‑1)行感测数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶相光电股份有限公司，未经晶相光电股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410705158.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
