[发明专利]一种HIRF测试中地面多路径反射干扰误差的消除方法有效

专利信息
申请号: 201410706144.9 申请日: 2014-11-27
公开(公告)号: CN104375045A 公开(公告)日: 2015-02-25
发明(设计)人: 方金鹏;武亚君;张元;陈奇平 申请(专利权)人: 上海无线电设备研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张妍;徐雯琼
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种HIRF测试中地面多路径反射干扰误差的消除方法,包含:S1、根据HIRF测试确定中心测试点位置以及N个辅助测试点位置,配置建立地面多路径反射干扰模型;S2、采用射线路径追踪法分别计算中心测试点和N个辅助测试点的合成场强;S3、采用最小平方误差逼近法确定中心测试点的合成场强函数中的待定系数,实现中心测试点处的直射电磁波分量和地面反射电磁波分量的分离;S4、确定地面多路径反射干扰的消除因子,并对中心测试点的地面多路径反射干扰误差进行消除处理。本发明用于对HIRF测试数据进行地面多路径反射干扰误差的消除处理,确保HIRF测试数据的正确性,从而解决航空航天器HIRF地面模拟测试中因地面多路径反射干扰误差所产生的影响。
搜索关键词: 一种 hirf 测试 地面 路径 反射 干扰 误差 消除 方法
【主权项】:
一种HIRF测试中地面多路径反射干扰误差的消除方法,其特征在于,包含以下步骤:S1、根据HIRF测试确定中心测试点位置以及N个辅助测试点位置,配置建立地面多路径反射干扰模型;其中,所述的地面多路径反射干扰模型包括发射天线增益、发射天线位置与高度和地面反射系数;S2、采用射线路径追踪法分别计算中心测试点和N个辅助测试点的合成场强;其中,所述的合成场强是以发射天线增益、测试点位置与高度、地面反射系数为自变量的函数;S3、根据HIRF测试中在中心测试点和N个辅助测试点测试得到的场强幅值数据,采用最小平方误差逼近法确定中心测试点的合成场强函数中的待定系数,实现中心测试点处的接收天线接收信号中直射电磁波分量和地面反射电磁波分量的分离;S4、根据直射电磁波分量和地面反射电磁波分量,确定地面多路径反射干扰的消除因子,并对中心测试点的地面多路径反射干扰误差进行消除处理。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海无线电设备研究所,未经上海无线电设备研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410706144.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top