[发明专利]微波介质材料测试用高温校准装置及其校准方法有效
| 申请号： | 201410706680.9 | 申请日： | 2014-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN104391181B | 公开（公告）日： | 2017-11-03 |
| 发明（设计）人： | 李恩;王依超;郭高凤;高源慈;郑虎;陶冰洁 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R35/00 |
| 代理公司： | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙)51227 | 代理人： | 李玉兴 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种微波介质材料测试用高温校准装置及其校准方法，装置包括矢量网络分析仪、分别与矢量网络分析仪连接的两套波导，每套波导包括依次连接的同轴到波导转换接头、冷却波导、高反射和直通转换波导、隔热波导、高温波导、短路板，高反射和直通转换波导中开缝插入高反射插片形成短路；校准方法包括打开测试软件，在波导开缝处控制高反射插片的插入，运行测试软件进行自动校准，测试常温下两高温波导中的反射系数S11r空和S22r空，测试高温下加载待测介质样品之后的S11h和S22h空，并对S11h进行修正；利用进行过微波损耗修正后的S′11，计算待测介质样品在温度T下的复介电常数；本装置及方法可应用于微波材料介电性能高温测试系统中，可以进一步提高测试系统的测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 介质 材料 测试 高温 校准 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种微波介质材料测试用高温校准装置，其特征在于，包括：矢量网络分析仪、分别与矢量网络分析仪连接的两套材料和尺寸相同的波导，每套波导包括依次连接的同轴到波导转换接头、冷却波导、高反射和直通转换波导、隔热波导、高温波导、短路板，矢量网络分析仪的信号端口分别连接每个同轴到波导转换接头，高反射和直通转换波导中开缝插入高反射插片形成短路。
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