[发明专利]一种序列检测方法及装置有效
| 申请号： | 201410710037.3 | 申请日： | 2014-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN105703878B | 公开（公告）日： | 2019-04-30 |
| 发明（设计）人： | 宋挥师 | 申请（专利权）人： | 联芯科技有限公司 |
| 主分类号： | H04L1/00 | 分类号： | H04L1/00;H04L25/02;H04L25/03 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 路凯;胡彬 |
| 地址： | 200233 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种序列检测方法及装置，包括：干扰消除模块、相位误差计算模块、维特比模块、判决比特修正模块以及缓存模块。输入频域样本信号，进行干扰消除，获得判决比特和判决变量；判决比特进入缓存模块，以匹配维特比模块引入的处理延时，而判决变量和判决比特一起输入到相位误差计算模块，以计算判决误差；获得的判决误差变量输入到维特比模块，利用多个判决误差变量联合检测，获得修正后的判决误差变量值；利用修正后的判决误差变量，对判决比特进行修正，最终获得输出的修正比特。本发明可以应用于高阶差分调制信号，拥有较好的检测性能，以及较好的鲁棒性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 序列 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种序列检测方法，其特征在于，包括以下步骤：对输入频域样本信号进行干扰消除，获得判决比特和判决变量；对所述判决比特进行缓存，以匹配维特比运算引入的处理延时；对所述判决比特和判决变量进行相位误差计算得到判决误差变量，即对应于栅格图中的状态属性；对所述判决误差变量进行维特比运算获得修正后的判决误差变量；利用修正后的判决误差变量修正判决比特获得修正比特。
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