[发明专利]一种低漂移压力传感器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201410711006.X 申请日: 2014-11-28
公开(公告)号: CN104458103A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 孟美玉;赵元富;张富强;杨静;李光北;孙俊敏;钟立志 申请(专利权)人: 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
主分类号: G01L9/02 分类号: G01L9/02;B81B7/00;B81C1/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 臧春喜
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种低漂移压力传感器及其制造方法,低漂移压力传感器包括衬底、第一压敏电阻、第二压敏电阻、第三压敏电阻、第四压敏电阻、金属引线和PAD点,所述四个压敏电阻通过金属引线构成惠斯通电桥,四个压敏电阻放置在通过制作背腔形成的薄膜区域,且四个压敏电阻均沿同一方向放置。其制作步骤为:在衬底正面利用微加工光刻、注入工艺制作浓硼区、淡硼区;在衬底正面制作引线孔、金属引线和PAD点;在衬底背面制作空腔,从而形成薄膜层;划片。本发明压力传感器能够有效减小漏电,降低压力传感器的零点漂移,制造方法与标准体硅压阻式压力传感器的加工工艺兼容,器件加工工艺简单、成本低,且成品率高可批量生产。
搜索关键词: 一种 漂移 压力传感器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种低漂移压力传感器,其特征在于:包括衬底(1)、第一压敏电阻(41)、第二压敏电阻(42)、第三压敏电阻(43)、第四压敏电阻(44)、金属引线和PAD点;衬底(1)背面开有空腔(2),衬底(1)位于空腔(2)上方的部分形成薄膜层(3);第一压敏电阻(41)、第二压敏电阻(42)、第三压敏电阻(43)和第四压敏电阻(44)均为一字型结构,且沿同一方向设置在薄膜层(3)上表面,第一压敏电阻(41)和第三压敏电阻(43)、第二压敏电阻(42)和第四压敏电阻(44)分别关于薄膜层(3)的中心对称;第一压敏电阻(41)、第二压敏电阻(42)、第三压敏电阻(43)和第四压敏电阻(44)均由淡硼区、引线孔和两个浓硼区组成,两个浓硼区之间通过淡硼区连接,每个浓硼区上均设计有引线孔;所述浓硼区为圆形或四角为圆弧状的方形结构,浓硼区与淡硼区交接的地方为钝角;所述第一压敏电阻(41)、第二压敏电阻(42)、第三压敏电阻(43)和第四压敏电阻(44)通过连接在引线孔之间的金属引线构成惠斯通电桥;所述第一压敏电阻(41)和第二压敏电阻(42)之间、第二压敏电阻(42)和第三压敏电阻(43)之间、第三压敏电阻(43)和第四压敏电阻(44)之间、第四压敏电阻(44)和第一压敏电阻(41)之间设置有PAD点,用于实现惠斯通电桥与外部电路的连接。
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