[发明专利]半导体感测装置及制作方法有效

专利信息
申请号: 201410718153.X 申请日: 2014-12-02
公开(公告)号: CN104849317B 公开(公告)日: 2018-09-18
发明(设计)人: 冉晓雯;蔡娟娟;余沛慈;庄明谚;叶佳俊 申请(专利权)人: 元太科技工业股份有限公司
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00;G01N27/04;G01N27/60
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马雯雯;臧建明
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种半导体感测装置及制作方法,半导体感测装置包括纳米线导电层、半导体感测层以及导电层,纳米线导电层包括多个相连的导电纳米线,其中这些导电纳米线之间形成间隙,半导体感测层电性连接纳米线导电层,导电层电性连接半导体感测层,半导体感测层配置于纳米线导电层与导电层之间。
搜索关键词: 半导体 装置 制作方法
【主权项】:
1.一种半导体感测装置,其特征在于,包括:纳米线导电层,包括多个相连的导电纳米线,其中该些导电纳米线之间形成间隙;半导体感测层,电性连接该纳米线导电层;以及导电层,电性连接该半导体感测层,其中该半导体感测层配置于该纳米线导电层与该导电层之间。
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