[发明专利]一种多路纤芯测试装置及方法

摘要

本发明提供一种多路纤芯测试装置及方法，该装置包括：脉冲发生器、光源、光路开关、定向耦合器、光电检测器、信号处理装置、MCU芯片及主时钟；所述的光路开关设有多个光传输端口，每一光传输端口连接一备用光纤；脉冲发生器产生电脉冲信号，并发送至光源；光源将电脉冲信号转换为光脉冲信号，通过定向耦合器发送至光路开关；光路开关连接对应光传输端口的备用光纤，将光脉冲信号传送给该备用光纤并接收回馈的光信号，通过定向耦合器传输至光电检测器；光电检测器将光信号转换为电信号，输出至信号处理装置；信号处理装置根据电信号生成发光强度-距离性能曲线，传输至MCU芯片；MCU芯片根据该性能曲线对备用光纤的性能参数进行比对，生成测试结果。

主权项

一种多路纤芯测试装置，其特征在于，所述的多路纤芯测试装置包括：脉冲发生器、光源、光路开关、定向耦合器、光电检测器、信号处理装置、MCU芯片及主时钟；所述的光路开关设有多个光传输端口，每一光传输端口连接一备用光纤；其中，所述的主时钟向所述的脉冲发生器发送一时钟信号，并向所述的信号处理装置发送一频率信号；所述的MCU芯片向所述的脉冲发生器发送一周期发射时间信号，并向所述的光路开关发送一开关切换信号；所述的脉冲发生器根据所述时钟信号产生电脉冲信号，并根据所述周期发射时间信号将所述的电脉冲信号发送至所述的光源；所述的光源将所述的电脉冲信号转换为光脉冲信号，并将所述的光脉冲信号发送至所述的定向耦合器；所述的定向耦合器将所述光脉冲信号输出至所述的光路开关；所述的光路开关接收所述的光脉冲信号及所述开关切换信号，根据所述开关切换信号连接对应光传输端口的备用光纤，然后将所述光脉冲信号传送给所述对应光传输端口的备用光纤并接收回馈的光信号，将所述光信号传送给所述的定向耦合器；所述的定向耦合器接收所述光信号，并将所述光信号输出至所述的光电检测器；所述的光电检测器将所述光信号转换为电信号，并将所述电信号输出至所述的信号处理装置；所述的信号处理装置接收所述频率信号及电信号，根据所述的频率信号将所述的电信号转换为数字信号，根据所述的数字信号生成发光强度‑距离性能曲线，并将所述的发光强度‑距离性能曲线传输至所述的MCU芯片；所述MCU芯片根据所述的发光强度‑距离性能曲线对所述对应光传输端口的备用光纤的性能参数进行比对，生成测试结果。