[发明专利]一种基于B样条曲线的数据点的拟合方法及装置在审

专利信息
申请号: 201410722418.3 申请日: 2014-12-02
公开(公告)号: CN104517032A 公开(公告)日: 2015-04-15
发明(设计)人: 石柯;邹翔;马振杰 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 刘杰
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及测量技术领域,公开了一种基于B样条曲线的数据点的拟合方法及装置。其中,该方法包括:将未知曲面的测量数据点Qi(i=0,1,…,n)作为B样条曲线的控制点定义节点向量t0=…=tk-1=0,tr-k+1=…=tr=1,其中,设根据控制点和节点向量构造B样条曲线其中,k为曲线的阶数,r=n+k;在所构造的B样条曲线上,获得与每一个数据点最近的点设更新为作为新的控制点,构造曲线重复在所构造的B样条曲线上,获得与每一个数据点最近的点直至最短间距,其中最短间距在误差限内。本发明实现了数据点的精确拟合,满足了拟合需求。
搜索关键词: 一种 基于 曲线 据点 拟合 方法 装置
【主权项】:
一种基于B样条曲线的数据点的拟合方法,其特征在于,包括:将未知曲面的测量数据点Qi(i=0,1,...,n)作为B样条曲线的控制点Pi→(1)=Qi,i=0,...,n;]]>定义节点向量t0=…=tk‑1=0,tr‑k+1=…=tr=1,tj+k-1=1k-1Σi=jj+k-2τi,j=1,...,n-k+1;]]>其中,设τ0=0,τi=τi-1+|Qi-Qi-1|d,i=1,...,n,]]>d=Σi=1n|Qi-Qi-1|;]]>根据所述控制点和所述节点向量构造B样条曲线其中,k为曲线的阶数,r=n+k;在所构造的B样条曲线上,获得与每一个数据点最近的点ti‾(i=1,...,n-1);]]>设Pi(2)=Pi(1)+Qi-r(1)(ti‾),i=1,...,n-1,P0(2)=Q0,Pn(2)=Qn,]]>更新Pi(1)为Pi(2)作为新的控制点,构造曲线重复所述在所构造的B样条曲线上,获得与每一个数据点最近的点直至最短间距,其中所述最短间距在误差限内。
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