[发明专利]一种嵌套双自适应光学系统有效

专利信息
申请号: 201410723037.7 申请日: 2014-12-03
公开(公告)号: CN104360478A 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 李新阳;罗奇 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G02B26/06 分类号: G02B26/06;G02B27/00;G01J9/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;贾玉忠
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种嵌套双自适应光学系统,包括望远镜,缩束系统,信标光源,分光镜,两个波前探测器,两个波前校正器,两个波前控制器和成像系统等。其特征在于主要包括内,外两个通道自适应光学系统,采用内通道自适应光学系统校正由内部气流运动和地基震动等因素引起的内部动态像差扰动,用外通道自适应光学系统校正大气湍流,并对内通道自适应光学系统校正的残余信号进行二次校正。本发明具有比用常规自适应光学系统同时校正内部动态像差扰动和大气湍流更小的残余信号方差。
搜索关键词: 一种 嵌套 自适应 光学系统
【主权项】:
一种嵌套双自适应光学系统,主要包括望远镜,缩束系统,信标光源,分光镜,两个波前探测器,两个波前校正器,两个波前控制器和成像系统;其特征在于:所述信标光源(3),第一波前校正器(5)、第一波前探测器(7)和第一波前控制器(8)组成内通道自适应光学系统,其工作波长为λ1;所述望远镜(1),缩束系统(2),第二波前校正器(9)、第二波前探测器(11)和第二波前控制器(12)组成外通道自适应光学系统,其工作波长为λ2;信标光受到系统内部像差扰动的影响,经过第一波前校正器(5)校正后,由第一波前探测器(7)探测到残余波前信号,第一波前控制器(8)根据此探测信息经过控制计算得到第一波前校正器的(5)控制信号,从而完成内通道自适应光学系统对内扰动的闭环校正;望远镜(1)接收到大气湍流影响的目标光,经过缩束系统(2)后,与内通道自适应光学系统校正残余波前相叠加后到达波第二前校正器(9),由第二波前探测器(11)探测经过校正后残余波前信号,第二波前控制器(12)根据此探测信息同样经过控制计算后,得到第二波前校正器(9)的控制电压信号,从而完成外通道自适应光学系统对大气湍流的闭环校正以及对内扰动的二次校正;所述两个通道自适应光学系统可以独立工作,若没有内通道自适应光学系统,内部像差扰动将由外通道自适应光学系统一并校正;若两个通道同时工作,内通道自适应光学系统校正后的残余波前同大气湍流像差扰动一起进入外通道自适应光学系统进行进一步地校正,形成嵌套结构。
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