[发明专利]检测器、多单元检测部件、光学光传感器、光学感测阵列和显示装置有效
申请号: | 201410723211.8 | 申请日: | 2014-12-03 |
公开(公告)号: | CN104699293B | 公开(公告)日: | 2019-06-11 |
发明(设计)人: | 薛九枝;克里希纳.巴尔拉姆;戴维.M.霍夫曼 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/042 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张波;黄静 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供检测器、多单元检测部件、光学光传感器、光学感测阵列以及显示装置。该检测器用于检测一波长范围和一入射角范围的光,该检测器包括:基板;多个电介质结构,在基板上,多个电介质结构中的每一个通过电介质结构的与基板相反的一侧接收光;以及多个导电结构,在基板上,多个导电结构中的连续导电结构在其间具有多个电介质结构中的相应电介质结构,其中连续导电结构和相应电介质结构形成腔体以响应于接收该波长范围的光而引起吸收谐振。 | ||
搜索关键词: | 电介质结构 检测器 基板 连续导电结构 多单元检测 导电结构 光传感器 光学感测 显示装置 波长 谐振 接收光 入射角 腔体 响应 检测 吸收 | ||
【主权项】:
1.一种光学光传感器,用于检测一波长范围和一入射角范围的光,所述光学光传感器包括:基板;多个电介质结构,在所述基板上,光在所述电介质结构的与所述基板相反的一侧入射;多个导电结构,在所述基板上,所述多个导电结构中的连续导电结构在其间具有所述多个电介质结构中的相应电介质结构,所述多个导电结构和所述多个电介质结构形成多个腔体,每个所述腔体通过所述连续导电结构和所述相应电介质结构形成;在所述多个电介质结构和所述多个导电结构上的透明的绝缘层;以及栅电极,所述栅电极位于所述绝缘层上以在所述多个腔体中的一腔体上并且阻挡所述波长范围的光到达其下面的所述腔体,其中所述多个腔体中暴露于所述波长范围的光的腔体响应于接收所述波长范围的光而引起吸收谐振。
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