[发明专利]一种基于频谱扫描的分布式物理量探测方法及其装置

摘要

本发明提供一种基于频谱扫描的分布式物理量探测方法及其装置。该方法包括下述步骤：1)以等频率间隔向被测量对象发射信号：f＝1Δf，2Δf，3Δf，…，nΔf，f为扫描频率，Δf为频率间隔；2)信号接收电路接收被测量对象的频域响应X(f)：X(1Δf)，X(2Δf)，X(3Δf)，…，X(nΔf)；3)在频域进行反转平移步骤，获得X₃(f)；4)对X₃(f)进行离散傅立叶逆变换，获得x₃(t)；5)从x₃(t)获得测量结果即时域信号x(t)。本发明提供的探测方法及其装置不需要发射强脉冲，对器件的要求低；不需要测量频谱中的直流分量，而且不需要进行直流校准或补偿，因此完全避免了测量频谱中直流分量所面临的困难，并且排除了系统直流漂移所造成的误差。

主权项

一种基于频谱扫描的分布式物理量探测方法，包括下述步骤：1)以等频率间隔向被测量对象发射信号，f＝1Δf，2Δf，3Δf，…，nΔf，f为扫描频率，Δf为频率间隔，nΔf为扫描频谱的最大频率；频率间隔Δf满足条件：Δf≤v/4L，其中v为信号的传播速度，L为待测目标尺度；2)接收被测量对象的频域响应信号X(f)：X(1Δf)，X(2Δf)，X(3Δf)，…，X(nΔf)；3)对步骤2)获得的结果进行时域反转平移计算，包括下述步骤：1.将X(f)乘以因子‑1得到X₁(f)，X₁(f)＝‑X(f)；2.将X₁(f)在时间轴上平移D，D满足条件：(v/(2Δf)‑L)>D>L，其中v为信号的传播速度，L为待测目标尺度，X₂(f)＝X₁(f)e^‑j4πf D3.将X(f)和X₂(f)相加得到X₃(f)，X₃(f)＝X(f)+X₂(f)＝X(f)+X₁(f)e^‑j4πf D＝X(f)‑X(f)e^‑j4πf D4)对X₃(f)进行离散傅立叶逆变换，获得x₃(t)；5)从x₃(t)获得时域信号x(t)。