[发明专利]一种于硅基片上直接生长石墨烯膜的方法在审
申请号: | 201410727526.X | 申请日: | 2014-12-03 |
公开(公告)号: | CN104477889A | 公开(公告)日: | 2015-04-01 |
发明(设计)人: | 连丽君 | 申请(专利权)人: | 连丽君 |
主分类号: | C01B31/04 | 分类号: | C01B31/04 |
代理公司: | 上海大邦律师事务所 31252 | 代理人: | 熊磊之 |
地址: | 210000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种于硅基片上直接生长石墨烯膜的方法,以半导体硅基片作为衬底,在对硅基片进行合理预处理后,以酞菁类化合物为固体碳源,通过固相热裂解技术,在一定气氛条件下,调节反应温度、气氛种类、流速等条件,在硅基片上直接生长得到石墨烯膜,沉积有石墨烯膜的硅基片器件样片如摘要附图所示。且硅基片由于表面均匀覆盖石墨烯膜后,方阻测试达到1Ω·□-1与铜导电性相当。本发明于非氢环境得到,无需金属作为催化剂,方法安全、环保、简单;得到石墨烯膜的厚度、结构、尺寸容易控制,且具有高度平面取向性;生长的石墨烯无需转移过程,便可直接用于制造各种器件,提高了器件的电学特性,可靠性,降低器件制造复杂性,有望实现工业化生产。 | ||
搜索关键词: | 一种 硅基片上 直接 生长 石墨 方法 | ||
【主权项】:
一种于硅基片上直接生长石墨烯膜的方法,其特征在于:采用硅基片作为衬底,经过合理预处理后将基片放入金属酞菁化合物与无机盐的混合物中,在一定的气氛,温度条件下,金属酞菁化合物热裂解,最终在硅基片上直接生长得到具有高度取向的石墨烯膜。
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