[发明专利]一种于硅基片上直接生长石墨烯膜的方法在审

专利信息
申请号: 201410727526.X 申请日: 2014-12-03
公开(公告)号: CN104477889A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 连丽君 申请(专利权)人: 连丽君
主分类号: C01B31/04 分类号: C01B31/04
代理公司: 上海大邦律师事务所 31252 代理人: 熊磊之
地址: 210000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种于硅基片上直接生长石墨烯膜的方法,以半导体硅基片作为衬底,在对硅基片进行合理预处理后,以酞菁类化合物为固体碳源,通过固相热裂解技术,在一定气氛条件下,调节反应温度、气氛种类、流速等条件,在硅基片上直接生长得到石墨烯膜,沉积有石墨烯膜的硅基片器件样片如摘要附图所示。且硅基片由于表面均匀覆盖石墨烯膜后,方阻测试达到1Ω·□-1与铜导电性相当。本发明于非氢环境得到,无需金属作为催化剂,方法安全、环保、简单;得到石墨烯膜的厚度、结构、尺寸容易控制,且具有高度平面取向性;生长的石墨烯无需转移过程,便可直接用于制造各种器件,提高了器件的电学特性,可靠性,降低器件制造复杂性,有望实现工业化生产。
搜索关键词: 一种 硅基片上 直接 生长 石墨 方法
【主权项】:
一种于硅基片上直接生长石墨烯膜的方法,其特征在于:采用硅基片作为衬底,经过合理预处理后将基片放入金属酞菁化合物与无机盐的混合物中,在一定的气氛,温度条件下,金属酞菁化合物热裂解,最终在硅基片上直接生长得到具有高度取向的石墨烯膜。
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