[发明专利]一种碳纳米CT成像系统及成像方法有效

专利信息
申请号: 201410735226.6 申请日: 2014-12-05
公开(公告)号: CN104434163B 公开(公告)日: 2017-09-15
发明(设计)人: 谭思晴;张成祥;郑海荣;胡战利;陈垚;桂建保;洪序达;张蕴婉 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司44304 代理人: 孙伟峰
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种碳纳米CT成像系统及成像方法,包括机架、控制系统、计算机系统、探测器、准直器、过滤器和若干个碳纳米射线源,其中,若干个所述碳纳米射线源呈环形阵列均匀设置于所述机架上,用于发射X射线;所述控制系统与所述碳纳米射线源连接,用于控制碳纳米射线源在指定时间对指定位置发射X射线。本发明提供的一种碳纳米CT成像系统及成像方法,实现对待测对象进行定点、定时、定量的X射线扫描,使扫描方式更具有针对性,减少待测对象X射线的摄入量,同时,本发明的成像系统不需要采用滑环实现了X射线扫描功能,降低了CT成像系统的制造成本,另外,该碳纳米射线源具有响应速度快、散热效果好,使用寿命长的特点。
搜索关键词: 一种 纳米 ct 成像 系统 方法
【主权项】:
一种碳纳米CT成像系统,包括机架(10)、控制系统(40)、计算机系统(90)、探测器(80)、准直器(60)、过滤器(70)和若干个碳纳米射线源(50),其特征在于,所述碳纳米射线源(50)的数量为80个至120个之间,呈环形阵列均匀设置于所述机架(10)上,用于发射X射线;所述控制系统(40)与所述碳纳米射线源(50)连接,用于控制碳纳米射线源(50)在指定时间对指定位置发射X射线;所述过滤器(70)与每一个所述碳纳米射线源(50)对应放置,用于过滤X射线;所述准直器(60)放置于所述过滤器(70)与碳纳米射线源(50)之间,分别与过滤器(70)和碳纳米射线源(50)对应,用于控制X射线的照射范围;所述探测器(80)与所述碳纳米射线源(50)平行对应放置,探测器(80)与碳纳米射线源(50)之间放置有待测对象(20),探测器(80)与所述计算机系统(90)连接,所述碳纳米射线源(50)包括壳体(110)、碳纳米管阴极(120)、阳极(150);所述碳纳米管阴极(120)和阳极(150)分别位于所述壳体(110)的两侧,所述碳纳米管阴极(120)包括放射面(121),所述放射面(121)为凹形曲面,所述阳极(150)包括激发端(151)和底座(152),所述激发端(151)和底座(152)分别位于阳极(150)的两侧,所述激发端(151)呈圆锥形状,所述底座(152)设有定位孔(52),所述壳体(110)设有主轴(112)和出射窗(111),所述主轴(112)插设于所述定位孔(52)中,所述定位孔(52)与所述主轴(112)之间具有配合间隙。
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