[发明专利]基于时频参数标准信号源方式的信号检测设备校准方法有效
申请号: | 201410738143.2 | 申请日: | 2014-12-05 |
公开(公告)号: | CN104502875B | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
发明(设计)人: | 魏晴昀;陈蓓;何缓;胡乔林;潘谊春;郁春来;张洪;陈智华;何龙;万松 | 申请(专利权)人: | 魏晴昀 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 430000 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于时频参数标准信号源方式的信号检测设备校准方法。本发明的信号检测设备校准方法可以远程控制标准信号源,采集标准信号源的时频参数等输出信息,并将标准数据和待检测设备的输出数据进行比较分析,给出待测设备数据的精度等级以及操作建议。本发明的信号检测设备校准方法可以复用测试计划,尤其是涉及到设备、仪器、信号源、数据采集、结果等多个方面的参数设置时,复用计划可以很好的节省工作量;同时可以将计划、现场测试分离,在现场测试之前拟制计划,从而节约现场测试时间,提高校准方法使用的便捷性。 | ||
搜索关键词: | 基于 参数 标准 信号源 方式 信号 检测 设备 校准 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于时频参数标准信号源方式的信号检测设备校准方法,包括以下步骤:步骤1,建立信号检测设备校准计划,所述信号检测设备校准计划包括待检测设备的设备信息、校准基本信息和信号测试流程;步骤2,新建测试信号样式,并按照所述信号测试流程改变测试信号的时频参数设定值,生成标准测试信号样式;步骤3,根据信号检测设备校准计划,搭建测试系统,并完成系统自检;所述测试系统包括标准信号源和待测的信号检测设备;步骤4,所述标准信号源按照所述标准测试信号样式发出测试信号至待检测的信号检测设备;步骤5,所述待检测的信号检测设备接收所述测试信号,并输出测试数据,所述测试数据包括所述接收到的测试信号的时频参数检测值;步骤6,存储所述测试信号的时频参数检测值,并将所述时频参数检测值与所述时频参数设定值进行比较分析,生成所述待测信号检测设备的误差数据图表、精度等级和/或操作建议;所述步骤2具体为:101建立测试信号样式数据库,所述测试信号样式数据库包括多个测试信号样式组和多个测试信号样式;102从所述测试信号样式数据库中选择一个测试信号样式,并确定所选择的测试信号样式的释放时间;103重复步骤102,并根据信号流程,将选择的多个测试信号样式进行组合,调整所述多个测试信号样式的顺序和/或释放时间;所述信号流程按照先频率、再脉宽、脉间、调制、调幅的顺序,数值上由低到高进行遍历,每遍历一次为一个帧周期;104建立仪器性能参数数据库,判断所述多个测试信号样式的时频参数是否均在待检测设备的性能参数界限内,即判断所述多个测试信号样式是否均为有效的测试信号样式,若是,则进入步骤105;如不是,则返回步骤102;105生成并保存标准测试信号。
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