[发明专利]高精度远距移测系统及用其测量位移、形变和长度的方法在审

专利信息
申请号: 201410741689.3 申请日: 2014-12-08
公开(公告)号: CN104482861A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 王云祥;周罡;史苏娟;郭郑来;周皓 申请(专利权)人: 苏州市计量测试研究所
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/16
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫
地址: 215218 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种高精度远距移测系统及用其测量位移、形变和长度的方法,本发明通过使用两个图像传感器采集图像并进行移测相关运算,可以解决了放大倍率与物体边界难以精确判定的技术问题。本发明的系统有多功能测量的优点,不仅可以测位移,也可以测量物体形变,并且具有测量距离远,放大倍数可任意设定,放大或缩小均可,测量精度高的特性。本发明在测量距离1米处,物像放大倍率为5:1情况下,测量精度达1微米,最高精度可达0.1微米。
搜索关键词: 高精度 远距移测 系统 测量 位移 形变 长度 方法
【主权项】:
一种高精度远距移测系统,其特征在于,包括位移平台、被测物体、第一图像传感器、第二图像传感器和计算机,所述位移平台上放置被测物体,所述第一图像传感器和第二图像传感器面向位移平台放置,所述第二图像传感器前端放置有瞄准目镜,所述第一图像传感器和第二图像传感器与计算机进行通讯,所述位移平台由驱动装置驱动进行移动,所述驱动装置由所述计算机控制;被测物体在位移平台的带动下发生位移,在位移过程中,被测物体在第一图像传感器和第二图像传感器中的位置发生变化,并且始终位于第一图像传感器和第二图像传感器的视野之中。
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