[发明专利]一种实现纳米尺寸大气细颗粒物的监测方法有效
| 申请号： | 201410742102.0 | 申请日： | 2014-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN104458523A | 公开（公告）日： | 2015-03-25 |
| 发明（设计）人： | 朱殷;陈浩;刘晓龙;杜志贵;何洋 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电研究院 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;G01N15/02;G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 杨学明;贾玉忠 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种实现纳米尺寸大气细颗粒物的监测方法，包括利用暗场成像技术获得大气细颗粒物样品的高信噪比的具有纳米精度的暗场图像；利用光点提取算法，自动读取暗场图像中颗粒个数，获得测量区域颗粒浓度；选取暗场图像中的某一亮点(细颗粒)，通过对该颗粒的暗场光谱的测量获得其散射光谱数据；通过对固定目标的散射光谱的分析，获得该颗粒的尺寸和成分信息，实现对纳米尺寸大气颗粒的物理化学特性的监测。本发明具有纳米成像精度和高信噪比，既操作简单、成本低廉，又可以在实现大气细颗粒物浓度自动提取的同时，获得纳米细颗粒物的尺寸和成分信息等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 实现 纳米 尺寸 大气 颗粒 监测 方法 | ||
【主权项】：
一种实现纳米尺寸大气细颗粒物的监测方法，其特征在于，包括：该方法的步骤如下：步骤1、利用暗场散射成像原理获得大气细颗粒物样品的高信噪比的具有纳米精度的暗场图像和暗场散射光谱；步骤2、利用光点提取算法，自动读取暗场图像中颗粒个数，获得测量区域颗粒浓度；步骤3、选取暗场图像中的某一亮点即细颗粒，通过对该颗粒的暗场光谱的测量获得其散射光谱数据；步骤4、通过对选定目标的暗场散射光谱的分析，获得该颗粒的尺寸和成分信息。
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