[发明专利]物探激电测深数据层析法处理方法有效
申请号: | 201410746156.4 | 申请日: | 2014-12-09 |
公开(公告)号: | CN104502986A | 公开(公告)日: | 2015-04-08 |
发明(设计)人: | 蔡运胜;夏训银;杨学明;李小永;范剑;王茜 | 申请(专利权)人: | 天津华勘集团有限公司 |
主分类号: | G01V3/38 | 分类号: | G01V3/38 |
代理公司: | 天津才智专利商标代理有限公司12108 | 代理人: | 王顕 |
地址: | 300170*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种物探激电测深数据层析法处理方法,采集一系列的供电极距ABi以及每个ABi对应的供电电流强度Ii、视电阻率ρsi、视极化率ηsi,得到探测深度Hi以及与Hi对应的电阻率ρi、极化率ηi如下:其中,i为正整数,各参数与单位之间对应关系为H-米、ρ-欧姆·米、η-%、I-安培、AB-米。本发明中的物探激电测深数据层析法处理方法结果准确、适用范围广。 | ||
搜索关键词: | 物探 测深 数据 层析 处理 方法 | ||
【主权项】:
一种物探激电测深数据层析法处理方法,其特征在于,采集一系列的供电极距ABi以及每个ABi对应的供电电流强度Ii、视电阻率ρsi、视极化率ηsi,得到探测深度Hi以及与Hi对应的电阻率ρi、极化率ηi如下:Hi=(piqi)2/3-pi2qi1-(piqi)2/3ABi]]>ρi=pipi2-qiρsi-qipi2-qiρs(i-1)]]>ηi=piηsiρsi-qiηs(i-1)ρs(i-1)piρsi-qiρs(i-1)]]>其中,i为正整数,各参数与单位之间对应关系为H‑米、ρ‑欧姆·米、η‑%、I‑安培、AB‑米。
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