[发明专利]一种天线覆盖性能评估方法及装置有效
| 申请号： | 201410746399.8 | 申请日： | 2014-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN105744537B | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 高峰;刘宁;朱文涛;李宁;宋智源;和凯;何继伟;马文华;姚硕;王西点;王磊;胡晓彦 | 申请（专利权）人： | 中国移动通信集团设计院有限公司;中国移动通信集团山东有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/00 | 分类号： | H04W24/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;黄灿 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种天线覆盖性能评估方法及装置，涉及无线技术领域。该方法包括：按照预设规则对待测天线的覆盖区域进行划分，得到多个待评估区域；获取每个待评估区域中的评估参数，根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能，依次对所述多个待评估区域评估，直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估。本发明的方案，解决了现有的天线覆盖性能评估采用传播模型、统计模型等实现而引起的操作复杂、成本消耗大以及误差较大等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 天线 覆盖 性能 评估 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种天线覆盖性能评估方法，其特征在于，包括：按照预设规则对待测天线的覆盖区域进行划分，得到多个待评估区域；获取每个待评估区域中的评估参数，根据所述评估参数评估天线在待评估区域的覆盖性能，依次对所述多个待评估区域评估，直至完成天线在所有待评估区域的覆盖性能的评估；其中，所述评估参数包括：当前待评估区域的第二差错率；所述第二差错率是使用第二差值修正第一门限值后，根据所述当前待评估区域中，第一差值小于修正后第一门限值的扫频点个数与扫频点总数得到的；所述第一差值是所述当前待评估区域的扫频点在服务小区的实测电平和理论电平的差值；所述第二差值是所述当前待评估区域的扫频点在非服务小区的实测电平和理论电平的差值。
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