[发明专利]太赫兹波段测试非线性极化系数和吸收系数的装置及方法在审
申请号: | 201410751192.X | 申请日: | 2014-12-10 |
公开(公告)号: | CN104390935A | 公开(公告)日: | 2015-03-04 |
发明(设计)人: | 彭滟;朱亦鸣;陈向前;霄炜;罗坤;周云燕;钟宇;郑书琪 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01N21/3586 | 分类号: | G01N21/3586 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 吴宝根 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种太赫兹波段测试非线性极化系数和吸收系数的装置及方法,激光被分束片分成泵浦和探测两路光,探测光被可调节光程的反射镜组反射后,经用于调节入射激光光束强度的金属衰减片衰减,被反射镜反射至高阻硅片上;分束片出来的泵浦光被反射进入太赫兹产生装置产生太赫兹准直光,再经太赫兹偏振片被抛物面镜聚焦在焦点位置的样品架,另一抛物面镜将太赫兹转为平行光反射至高阻硅片上;两路光在高阻硅片处重合再被抛物面镜聚焦到探测晶体上,经发散后经过凸透镜聚焦再经1/4波片到沃拉斯通棱镜分别聚焦至两个光电探头处。只需将测试样品放在光路中的样品架或探测晶体位置,即可实现对样品在太赫兹波段的非线性极化系数和太赫兹波段的吸收系数的测试。 | ||
搜索关键词: | 赫兹 波段 测试 非线性 极化 系数 吸收系数 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种太赫兹波段测试非线性极化系数和吸收系数的装置,其特征在于,由激光光源,分束片,第一反射镜,第二反射镜,第三反射镜,电机,第四反射镜,金属衰减片,第五反射镜,第六反射镜,太赫兹产生装置,太赫兹偏振片,第一抛物面镜,样品架,第二抛物面镜,高阻硅片,第三抛物面镜,探测晶体,凸透镜,1/4波片,沃拉斯通棱镜,第一光电探头,第二光电探头构成,激光光源发出的激光被分束片分成泵浦和探测两路光,探测光被第一反射镜反射进入由第二反射镜、第三反射镜以及电机组成的延迟系统,再被第四反射镜反射经用于调节入射激光光束强度的金属衰减片衰减,被第五反射镜反射至高阻硅片上;分束片出来的泵浦光被第六反射镜反射经过太赫兹产生装置产生太赫兹,太赫兹产生装置出来的准直光,再经太赫兹偏振片被第一抛物面镜聚焦,在第一抛物面镜的焦点位置处放置测试吸收系数的样品架,第二抛物面镜将太赫兹转为平行光反射至高阻硅片上;两路光在高阻硅片处重合,且两路光的光程通过调节延迟系统达到一致;第三抛物面镜将两束光聚焦到探测晶体上,经探测晶体出来的两束光发散,两束光经过凸透镜聚焦再经1/4波片到沃拉斯通棱镜分别聚焦至第一光电探头和第二光电探头处,两个光电探头接收测试信号。
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