[发明专利]金属间合物填充材料的转接板的制造工艺在审
申请号: | 201410753225.4 | 申请日: | 2014-12-10 |
公开(公告)号: | CN104465504A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 何洪文;孙鹏;曹立强 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 曹祖良;刘海 |
地址: | 214135 江苏省无锡市新区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种金属间合物填充材料的转接板的制造工艺,其特征是,包括以下步骤:第一步:在硅转接板上刻蚀盲孔;第二步:在硅转接板的表面和盲孔的内表面沉积绝缘层和铜层;第三步:将Cu颗粒掺杂的液态钎料填充到盲孔中,Cu颗粒的掺杂量为50%~90%,Cu颗粒的粒径为1微米~50微米;第四步:回流后形成金属间化合物;第五步:去除转接板正面的铜层和部分绝缘层;第六步:在硅转接板的正面制作RDL层和微凸点;第七步:在硅转接板的背面进行减薄工艺,露出金属间化合物的底部;第八步:在硅转接板的背面制作背面RDL层和背面微凸点,从而完成转接板的制作。本发明可有效防止裂纹的出现,提高产品的可靠性;同时,极大的减少了工艺时间。 | ||
搜索关键词: | 金属 间合物 填充 材料 转接 制造 工艺 | ||
【主权项】:
一种金属间合物填充材料的转接板的制造工艺,其特征是,包括以下步骤:第一步:在硅转接板(1)上刻蚀盲孔(2);第二步:在硅转接板(1)的表面和盲孔(2)的内表面沉积绝缘层(8)和铜层(9),绝缘层(8)的厚度为10 nm~10μm,铜层(9)的厚度为10 nm~10μm;第三步:将Cu颗粒掺杂的液态钎料填充到盲孔(2)中, Cu颗粒的掺杂量为50%~90%,Cu颗粒的粒径为1微米~50微米;第四步:回流后形成金属间化合物(5),回流过程中:升温至220~300℃,并在220℃以上停留30秒后,再降温至常温;第五步,将硅转接板(1)表面的铜层(8)去除,保留绝缘层(8);第六步:在硅转接板(1)的正面制作RDL层(3)和微凸点(4);第七步:在硅转接板(1)的背面进行减薄工艺,露出金属间化合物(5)的底部;第八步:在硅转接板(1)的背面制作背面RDL层(6)和背面微凸点(7),从而完成转接板的制作。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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