[发明专利]一种从多波长混合相移干涉图中提取相位信息的方法无效

专利信息
申请号: 201410755957.7 申请日: 2014-12-10
公开(公告)号: CN104535533A 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 王翰林;赵晖;刘满林;刘俊;张浠;安昕 申请(专利权)人: 佛山市南海区欧谱曼迪科技有限责任公司
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45
代理公司: 深圳市盈方知识产权事务所(普通合伙) 44303 代理人: 周才淇;朱晓江
地址: 528251 广东省佛山*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种从多波长混合相移干涉图中提取相位信息的方法,其包括以下步骤:将幅干涉图的一维数据写成一个干涉图矩阵形式,每一张干涉图为干涉图矩阵的列向量;获得干涉图的背景分量矩阵;从干涉图矩阵中获得协方差矩阵;对协方差矩阵进行对角化处理得到对角化协方差矩阵;根据对角化协方差矩阵,干涉图矩阵和背景分量矩阵获取干涉图的主成份;根据主成份通过反正切函数求解干涉图的相位;通过双波长相位解包方法得到物体在合成波长下的相位分布。采用本发明仅需要使用矩阵运算便可以得到定量相位分布,该算法需要的计算时间少于多数频率域算法,同时需要的分时曝光的缺点。
搜索关键词: 一种 波长 混合 相移 干涉 提取 相位 信息 方法
【主权项】:
一种从多波长混合相移干涉图中提取相位信息的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:将N幅干涉图的一维数据写成一个干涉图矩阵X形式,每一张干涉图为干涉图矩阵X的列向量;S2:获得干涉图的背景分量矩阵Imean;S3:从干涉图矩阵X中获得协方差矩阵C;S4:对协方差矩阵C进行对角化处理得到对角化协方差矩阵D;S5:根据对角化协方差矩阵D,干涉图矩阵X和背景分量矩阵Imean获取干涉图的主成份;S6:根据主成份通过反正切函数求解干涉图的相位;S7:通过双波长相位解包方法得到物体在合成波长下的相位分布,其中,所述背景分量矩阵和干涉图矩阵X具有同样的维度,且背景分量矩阵中所有元素的值代表干涉图中的背景强度,为各个干涉图的平均值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佛山市南海区欧谱曼迪科技有限责任公司;,未经佛山市南海区欧谱曼迪科技有限责任公司;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410755957.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top