[发明专利]细颗粒度污点分析中的污染属性操作方法在审
| 申请号： | 201410759439.2 | 申请日： | 2014-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN104361288A | 公开（公告）日： | 2015-02-18 |
| 发明（设计）人： | 张垚;董超群;司品超;廖军;张超容;黄东海 | 申请（专利权）人： | 无锡江南计算技术研究所 |
| 主分类号： | G06F21/57 | 分类号： | G06F21/57 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 龚燮英 |
| 地址： | 214083 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种细颗粒度污点分析中的污染属性操作方法，包括：以键值对的形式描述细颗粒度污点分析所得出的指定内存地址与其污染属性的映射关系；并且直接将所述键值对存储于两级存储系统中，其中所述两级存储系统由作为第一级的高速内存和作为第二级的大容量外存组成；从两级存储系统中读取期望获取的键值对，其中首先在第一级的内存中存储的键值对进行查找期望获取的键值对，如果在第一级的内存中存储的键值对中发现期望获取的键值对则读取期望获取的键值对，如果在第一级的内存中存储的键值对中未发现期望获取的键值对，则在第二级存储的键值对查找并读取期望获取的键值对，同时将读取出的期望获取的键值对存储至第一级的内存中。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 污点 分析 中的 污染 属性 操作方法 | ||
【主权项】：
一种细颗粒度污点分析中的污染属性操作方法，其特征在于包括：以键值对的形式描述细颗粒度污点分析所得出的指定内存地址与其污染属性的映射关系；直接将所述键值对存储于两级存储系统中，其中所述两级存储系统由作为第一级的高速内存和作为第二级的大容量外存组成；以及从两级存储系统中读取期望获取的键值对，其中首先在第一级的内存中存储的键值对进行查找期望获取的键值对，如果在第一级的内存中存储的键值对中发现期望获取的键值对则读取期望获取的键值对，如果在第一级的内存中存储的键值对中未发现期望获取的键值对，则在第二级存储的键值对查找并读取期望获取的键值对，同时将读取出的期望获取的键值对存储至第一级的内存中。
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