[发明专利]一种测定ZSM-23分子筛晶胞参数的粉末X射线衍射方法在审
| 申请号： | 201410766771.1 | 申请日： | 2014-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN105738389A | 公开（公告）日： | 2016-07-06 |
| 发明（设计）人： | 李瑞峰;王秀绘 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 100007 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种测定ZSM-23分子筛晶胞参数的粉末X射线衍射方法，包括：步骤一，将ZSM-23分子筛样品经过研磨、过筛、焙烧活化和室温恒湿处理得到ZSM-23分子筛待测试样；步骤二，在相同的粉末X射线衍射仪工作条件下，将所述ZSM-23分子筛待测试样与NIST云母标样分别压入相应的粉末X射线衍射仪样品架中，进行试样衍射峰角度校正测定并收集粉末X射线衍射数据；步骤三，在用NIST云母标样校正衍射峰角度之后，根据正交晶系晶面间距公式，计算所述ZSM-23分子筛样品的晶胞参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 zsm 23 分子筛 晶胞 参数 粉末 射线 衍射 方法 | ||
【主权项】：
一种测定ZSM‑23分子筛晶胞参数的粉末X射线衍射方法，其特征在于，包括：步骤一，将ZSM‑23分子筛样品经过研磨、过筛、焙烧活化和室温恒湿处理得到ZSM‑23分子筛待测试样；步骤二，在相同的粉末X射线衍射仪工作条件下，将所述ZSM‑23分子筛待测试样与NIST云母标样分别压入相应的粉末X射线衍射仪样品架中，进行试样衍射峰角度校正测定并收集粉末X射线衍射数据；步骤三，在用NIST云母标样校正衍射峰角度之后，根据正交晶系晶面间距公式，计算所述ZSM‑23分子筛样品的晶胞参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油天然气股份有限公司，未经中国石油天然气股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410766771.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：具有磁分析功能的X射线衍射装置
- 下一篇：用于垃圾处理的风动力分选罐
