[发明专利]一种孔系内高精度槽宽及槽深测量方法有效
申请号: | 201410770105.5 | 申请日: | 2014-12-15 |
公开(公告)号: | CN104482831A | 公开(公告)日: | 2015-04-01 |
发明(设计)人: | 金波;文中波 | 申请(专利权)人: | 贵州红林机械有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02;G01B5/18 |
代理公司: | 北京联创佳为专利事务所(普通合伙) 11362 | 代理人: | 韩炜 |
地址: | 550009 贵州*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | 本发明公开了一种孔系内高精度槽宽及槽深测量方法,采用对比测量方法,用块规精确校准测量系统的A、H值,用指示千分尺精确测量出测量系统的宽度B值后,通过与零件孔系中的A1、H1及B1对比测量,将差值反馈至测量系统中的千分表上,从而得出零件实测值。本方法测量精度高,测量过程中可根据需要被测零件的精度要求选择使用千分表或者是百分表,不同精度的量表可测量不同精度零件槽宽和槽深,使用范围广,对于较小孔系内尺寸也可以测量,测量过程中通过改变T型测针头端的T型台的直径d,可以适应不同尺寸的孔系;测量系统制造方便,测量系统中量表选用现有的百分表或千分表即可,可直接从量具生产厂家采购,只需要加工测座和T型测针即可。 | ||
搜索关键词: | 一种 孔系内 高精度 测量方法 | ||
【主权项】:
一种孔系内高精度槽宽及槽深测量方法,其特征在于:采用对比测量方法,用块规精确校准测量系统的A、H值,用指示千分尺精确测量出测量系统的宽度B值后,通过与零件孔系中的A1、H1及B1对比测量,将差值反馈至测量系统中的千分表(1)上,从而得出零件实测值;其中所述测量系统包括有千分表(1),千分表(1)下底部设有T型测针(3)代替,T型测针(3)下端头部设置有1个T型台(4),T型测针(3)的杆身穿过卡在千分表(1)下底部上的测座(2)内部;其中所述:A值为:测量系统中测座(2)下底面P2至T型测针(3)头端T型台(4)上端面M2的距离;H值为:测量系统中测座(2)下底面P2至T型测针(3)头端T型台(4)下底面N2的距离:B值为:测量系统中T型测针(3)头端T型台(4)的厚度;A1值为:被测零件外端面P1至被测零件内槽上端面M1之间的距离;H1值为:被测零件外端面P1至被测零件内槽下端面N1之间的距离;B1值为:被测零件内槽上端面M1至被测零件内槽下端面N1之间的距离,即为被测零件槽宽。
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