[发明专利]一种高频微波探针复频特性的测量装置及方法有效
申请号: | 201410771746.2 | 申请日: | 2014-12-12 |
公开(公告)号: | CN104459594A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 谢文;龚鹏伟;马红梅;杨春涛;谌贝;姜河 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 张文祎 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种高频微波探针复频特性的测量装置及方法,该装置包括飞秒激光源、分束镜、光学延迟线、斩波器、直流电压源、低温砷化镓光导开关、电光取样探头、短路器、渥拉斯顿棱镜、平衡光电探测器、锁相放大器、信号发生器、数据采集及处理单元。本发明所述技术方案可得到高频微波探针的复频特性,测量精度高,解决了针对现有测量技术无法精确测量高频微波探针传输特性的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 高频 微波 探针 特性 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种高频微波探针复频特性的测量装置,其特征在于,所述该装置包括飞秒激光源,用于输出激光至分束镜;分束镜,用于将激光分为泵浦光和取样光;斩波器,用于对来自分束镜的泵浦光进行调制,经调制的泵浦光被输出至低温砷化镓光电开关缝隙处;光学延迟线,用于改变取样光与泵浦光的相对延迟,经延迟的取样光被输出至电光取样探头;直流电压源,用于为低温砷化镓光导开关提供直流偏置电压;低温砷化镓光导开关,基于所述经调制的泵浦光产生太赫兹脉冲信号,并将该太赫兹信号施加至待测高频微波探针;短路器,用于将待测高频微波探针同轴端短路;电光取样探头,被设置为可相对所述低温砷化镓光导开关及待测微波探针平移,用于通过取样光探测来自待测高频微波探针的信号;渥拉斯顿棱镜,用于将来自所述电光取样探头的输出光分成o光和e光;平衡光电探测器,用于通过两个探测窗口分别接收所述渥拉斯顿棱镜的o光与e;信号发生器,用于产生驱动斩波器的调制信号和锁相放大器的参考信号;锁相放大器,用于对来自平衡光电探测器装置的信号进行锁相放大探测;数据采集及处理单元,对来自所述锁相放大器的信号进行处理,得到所示高频微波探针的复频特性。
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