[发明专利]一种模拟智能电能表存储器测试板系统及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201410773119.2 申请日: 2014-12-12
公开(公告)号: CN105741879B 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 刘鹰;高欣;翟峰;梁晓兵;叶平;赵兵;吕英杰;付义伦;李保丰;岑炜;孙志强;曹永峰;许斌;徐文静;冯占成;任博;张庚;杨全萍;周琪;卢艳;袁泉 申请(专利权)人: 国家电网公司;中国电力科学研究院;国网浙江省电力公司
主分类号: G11C29/08 分类号: G11C29/08;G01R35/04
代理公司: 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人: 徐国文
地址: 100031 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种基于智能电表软件可靠性测试平台的模拟存储器测试板系统及其测试方法。该系统包括检测计算机、模拟存储器测试板、被测单元、接口A和接口C;所述检测计算机通过接口A与模拟存储器测试板进行信息交互;所述被测单元通过接口C与模拟存储器测试板进行信息交互。该方法包括分析存储器模拟板FPGA的模拟存储芯片读写操作以及ARM芯片与存储器模拟板FPGA间的通信协议在模拟存储器测试板上运行综合后的程序五个步骤。本发明提供的模拟存储器测试板以ARM和FPGA相结合,以FPGA硬件逻辑模拟实际存储芯片的功能,解决ARM与存储芯片模块信息交互速度较慢,无法模拟失效等测试所需状态的问题。
搜索关键词: 一种 模拟 智能 电能表 存储器 测试 系统 及其 方法
【主权项】:
1.一种模拟智能电能表存储器测试板系统,其特征在于,所述测试板系统是基于智能电表软件可靠性测试平台的,包括检测计算机(1)、模拟存储器测试板(2)、被测单元(3)、接口A(4)和接口C(6);所述检测计算机(1)通过接口A(4)与模拟存储器测试板(2)进行信息交互;所述被测单元(3)通过接口C(6)与模拟存储器测试板(2)进行信息交互;所述模拟存储器测试板(2)包括通过接口B(5)进行信息交互的存储器模拟监控板ARM(7)和存储器模拟板FPGA(8);所述存储器模拟板FPGA(8)包括i2c总线内核(9)、仲裁选择模块(10)、三总线模块(11)、SRAM存储控制模块(12)、SRAM芯片(13)、修改存储器内容模块(14)、读取操作指令模块(15)和寄存器模块(16);所述仲裁选择模块(10)与i2c总线内核(9)进行信息交互;所述I2C总线内核(9)、三总线模块(11)、SRAM存储控制模块(12)和SRAM芯片(13)依次进行信息交互;所述修改存储器内容模块(14)分别与SRAM存储控制模块(12)和寄存器模块(16)连接;所述读取操作指令模块(15)分别与SRAM芯片(13)和寄存器模块(16)连接;所述SRAM存储控制模块(12)和寄存器模块(16)进行信息交互。
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