[发明专利]一种提高GeSbTe相变性能的技术及其薄膜制备方法在审
申请号: | 201410774875.7 | 申请日: | 2014-12-16 |
公开(公告)号: | CN104485417A | 公开(公告)日: | 2015-04-01 |
发明(设计)人: | 韩培高;吴良才;孟云;徐岭;马忠元;宋志棠 | 申请(专利权)人: | 曲阜师范大学 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00;C22C12/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 273165 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明提出一种提高Ge-Sb-Te相变性能的技术及其薄膜制备方法。通过对Ge-Sb-Te相变材料加入TiN形成化合物,其化学式为 (TiN)1-X-(Ge-Sb-Te)X(其中0.1<X<1),可以提高Ge-Sb-Te相变材料的热学和电学性能。Ge-Sb-Te相变材料结晶温度(~160oC)、热稳定性和数据保持能力不太理想,一直制约着Ge-Sb-Te在相变存储材料中的应用。TiN材料具有很好的热稳定性,通过两种合金材料的复合,得到一种新材料(TiN)1-X-(Ge-Sb-Te)X,这种材料具有比Ge-Sb-Te相变材料更好的电学性能,同时又有更好的热稳定性和数据保持力。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 gesbte 相变 性能 技术 及其 薄膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种提高Ge‑Sb‑Te相变材料性能的技术及其薄膜制备方法,其特征为:在Ge‑Sb‑Te相变材料中加入TiN后,形成由Ge‑Sb‑Te与TiN组成的化合物形式的相变材料,可以实现比纯Ge‑Sb‑Te相变材料更好的性能。
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