[发明专利]用于测量显示器质量的装置和方法在审
| 申请号： | 201410780011.6 | 申请日： | 2014-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN104735443A | 公开（公告）日： | 2015-06-24 |
| 发明（设计）人： | D.G.贝克 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张凌苗;陈岚 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了用于测量显示器质量的装置和方法。一种用于根据本发明的一些实施例来测量视频显示器的诸如亮度均匀性的质量参数的方法，包括：提供要在视频显示器上顺序显示的多个图样图像；使用广角光传感器来测量由每个图样图像所产生的光的量；以及使用与每个所显示的图样相对应的所测得的光值来计算视频显示器质量参数。根据该方法使用的每个图样是从正交矩阵推导出的，得到具有高平均明度的每个图样，从而消除了使用窄角斑点测光表的需要，并且替代地允许使用简单、广角的入射光或反射光光度计来进行测量。该方法符合用于测量亮度均匀性的相关SMPTE测量标准。另外，本发明的一些实施例提供了用于实施该方法的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 显示器 质量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量视频显示器质量参数的装置，其包括：广角光传感器，其被配置为：测量来自视频显示器的多个光度值，每个光度值与将要顺序显示在所述视频显示器上的多个掩蔽图样中的一个掩蔽图样相对应，其中，所述多个掩蔽图样中的每个掩蔽图样是从正交矩阵推导出的网格图样；以及处理器，其被配置为：使用多个测得的光度值来计算所述视频显示器质量参数。
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