[发明专利]一种短圆弧半径样板的测量方法在审
申请号: | 201410780497.3 | 申请日: | 2015-08-03 |
公开(公告)号: | CN104501727A | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 黄坤河;李琴;陈小春 | 申请(专利权)人: | 重庆望江工业有限公司 |
主分类号: | G01B11/08 | 分类号: | G01B11/08;G01B21/10 |
代理公司: | 重庆志合专利事务所 50210 | 代理人: | 徐永谦 |
地址: | 400071*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 本发明公开一种短圆弧半径样板的测量方法,包括确定合格值及其范围、建立直角坐标系、确定圆心、测量计算实际半径值及是否合格判定步骤。本发明是采用在圆弧面(1)上的各测量点与圆弧面(1)的圆心(O)之间的半径(R1)来判定短圆弧半径样板的圆弧面(1)的半径(R1)是否合格,即采用直线距离来判定短圆弧半径样板的圆弧面(1)的半径(R1)是否合格,从而判定短圆弧半径样板是否合格。因而,本发明相对于现有技术采用在圆弧面(1)上选择若干个微小段圆弧面进行测量并耦合计算判定短圆弧半径样板的圆弧面(1)的半径(R1)是否合格,就准确、可靠得多,且效率也较高。 | ||
搜索关键词: | 一种 圆弧 半径 样板 测量方法 | ||
【主权项】:
一种短圆弧半径样板的测量方法,包括确定合格值及其范围、建立直角坐标系、确定圆心、测量计算实际半径值及是否合格判定步骤,其特征是:第一步,确定合格值及其范围,确定所述短圆弧半径样板的圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)的合格值及其范围;第二步,建立直角坐标系,将短圆弧半径样板放置于测量仪器上,以所述短圆弧半径样板的圆弧面(1)的下平面(3)的右端与垂直平面(4)的下端的交点为坐标基准点,以短圆弧半径样板的下平面(3)为X轴、垂直平面(4)为Y轴;第三步,确定圆心(O),首先,选择第一上测量点(10)并测量该第一上测量点(10)的第一上坐标值(X1,Y1),该第一上测量点(10)位于所述短圆弧半径样板的圆弧面(1)上并在该圆弧面(1)与上平面(2)的交点的附近;接着,选择第一下测量点(20)并测量该第一下测量点(20)的第一下坐标值(X2,Y2),该第一下测量点(20)位于所述短圆弧半径样板的圆弧面(1)上并在该圆弧面(1)与下平面(3)的交点的附近;之后,根据第一上测量点(10)和第一下测量点(20)的坐标值,并结合短圆弧半径样板的圆弧面(1)的半径(R1)的合格值,计算并确定短圆弧半径样板的圆弧面(1)在坐标系中的圆心(O)的坐标值及具体位置;第四步,测量计算实际半径值,以第一上测量点(10)为起始点,在所述短圆弧半径样板的圆弧面(1)的圆弧上向下移动一个微小距离作为第二上测量点(30),测量该第二上测量点(30)的第二上坐标值(X3,Y3)并根据该第二上坐标值(X3,Y3)计算出该第二上测量点(30)从圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)值;再以第一下测量点(20)为起始点,在所述短圆弧半径样板的圆弧面(1)的圆弧上向上移动一个微小距离,选择第二下测量点(40)、测量该第二下测量点(40)第二下坐标值(X4,Y4)并根据该第二下坐标值(X4,Y4)计算出该第二下测量点(40)从圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)值;再接着,又以第二上测量点(30)为起始点,向下再移动一个微小距离,选择第三上测量点(50)、测量该第三上测量点(50)的第三上坐标值(X5,Y5)并根据该第三上坐标值(X5,Y5)计算出该第三上测量点(50)从圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)值;又再以第二下坐标点(40)为起始点,向上再移动一个微小距离,选择第三下测量点(60)、测量该第三下测量点(60)的第三下坐标值(X6,Y6)并根据该第三下坐标值(X6,Y6)计算出该第三下测量点(60)从圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)值;然后,重复上述过程,选择第四上测量点、测量第四上测量点的第四上坐标值并根据该第四上坐标值计算出该第四上测量点从圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)值,以及选择第四下测量点、测量第四下测量点的坐标值并根据该第四下坐标值计算出该第四下测量点从圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)值,直至选择并测量出上测量点和下测量重合时的第m上测量点(M)与第n下测量点(N)的座标值并根据该座标值计算出第m上测量点(M)与第n下测量点(N)从圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)值;第五步,是否合格判定;将上述步骤中测量并计算出的第一上测量点(10)、第二上测量点(30)、第三上测量点(50)、第四上测量点至第m上测量点(M),以及第一下测量点(20)、第二下测量点(40),第三下测量点(60)、第四下测量点至第n下测量点(N)分别从圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)值,与所述短圆弧半径样板的圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)在合格范围内的合格值一一对比;如果第一上测量点(10)、第二上测量点(30)、第三上测量点(50)、第四上测量点至第m上测量点(M),以及第一下测量点(20)、第二下测量点(40),第三下测量点(60)、第四下测量点至第n下测量点(N)分别从圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)值均在短圆弧半径样板的圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)的合格值范围之内,则判定该短圆弧半径样板的圆弧面(1)的半径(R1)合格;如果第一上测量点(10)、第二上测量点(30)、第三上测量点(50)、第四上测量点至第m上测量点(M),以及第一下测量点(20)、第二下测量点(40),第三下测量点(60)、第四下测量点至第n下测量点(N)分别从圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)值中有一个测量点的半径(R1)值不在短圆弧半径样板的圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)的合格值范围之内,或者有不连续的两个测量点的半径(R1)值不在短圆弧半径样板的圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)的合格值范围之内,也判定该短圆弧半径样板的圆弧面(1)的半径(R1)合格;如果第一上测量点(10)、第二上测量点(30)、第三上测量点(50)、第四上测量点至第m上测量点(M),以及第一下测量点(20)、第二下测量点(40),第三下测量点(60)、第四下测量点至第n下测量点(N)分别从圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)值中有连续的两个及两个以上测量点的半径(R1)值不在短圆弧半径样板的圆弧面(1)至其圆心(O)的半径(R1)的合格值范围之内,则判定该短圆弧半径样板的圆弧面(1)的半径(R1)不合格。
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