[发明专利]X-射线荧光光谱分析仪有效

专利信息
申请号: 201410781659.5 申请日: 2014-12-16
公开(公告)号: CN104502386A 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 韩晓朋 申请(专利权)人: 韩晓朋
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 广州中浚雄杰知识产权代理有限责任公司44254 代理人: 刘各慧
地址: 518000广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种X-射线荧光光谱分析仪,包括箱体、真空腔体座、射线管单元及探测器单元;真空腔体座设在箱体内,真空腔体座具有真空腔;射线管单元设在真空腔体座上;探测器单元设在真空腔体座上;在真空腔体座上设有与真空腔相通的放置孔,放置孔放置有容器装置,容器装置内具有样品腔,容器装置的底部具有与样品腔相通的通孔,在容器装置上设有封闭通孔的透光膜,使样品腔成为密闭腔,在容器装置与真空腔体座之间设有密封结构。本发明的结构解决了样品无法放置于真空腔内导致难以准确分析样品的技术问题。
搜索关键词: 射线 荧光 光谱分析
【主权项】:
X‑射线荧光光谱分析仪,包括箱体、真空腔体座、射线管单元及探测器单元;真空腔体座设在箱体内,真空腔体座具有真空腔;射线管单元设在真空腔体座上;探测器单元设在真空腔体座上;其特征在于:在真空腔体座上设有与真空腔相通的放置孔,放置孔放置有容器装置,容器装置内具有样品腔,容器装置的底部具有与样品腔相通的通孔,在容器装置上设有封闭通孔的透光膜,使样品腔成为密闭腔,在容器装置与真空腔体座之间设有密封结构。
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