[发明专利]绝对位置测量方法

摘要

绝对位置测量方法，涉及一种绝对位置测量方法，解决现有方法只适用于曼彻斯特编码方式，且需要扫描附加的编码、附加专门用于检错的编码，进而导致编码的利用率低等问题，本发明通过对同一编码单元在多个光敏感单元上所反映出的光学特性进行表决，并读取相邻的多个绝对位置编码，可以给后续设备提供可靠的绝对位置信息以及当前位置的污染状况。如果当前位置的污染状况超出可纠正范围时，位置测量装置停止给后续设备提供绝对位置信息并给出警报。通过选定某个光敏感单元作为测量点，可以提高测量分辨率。

主权项

绝对位置测量方法，其特征是，该方法由以下步骤实现：步骤一、采用光敏感单元阵列扫描相邻的多个绝对位置编码，其中每个绝对位置编码包含唯一的位置信息，该位置信息在测量方向上连续排列，每个绝对位置编码由固定数量的编码单元组成，每个编码单元具有透光或是不透光的光学特性；步骤二、将光敏感单元阵列的每个光敏感单元扫描得到的信号提供给二值化模块，所述二值化模块将所述信号与某一固定值对比，获得每个光敏感单元所对应的编码单元的光学特性；步骤三、采用光敏感单元阵列中多个光敏感单元扫描同一编码单元，通过扫描结果对所述同一编码单元的光学特性进行表决，按照少数服从多数的原则，确定所述同一编码单元的光学特性；步骤四、根据扫描范围内编码单元的光学特性，获得扫描范围内的所有绝对位置编码，查表得出所有绝对位置编码对应的位置信息；步骤五、选定光敏感单元阵列中某个光敏感单元作为测量点，将所有绝对位置编码对应的位置信息平移到该测量点处，完成对该测量点的多次测量；并对所述多次测量结果进行表决，按照少数服从多数的原则，确定该测量点的绝对位置信息。