[发明专利]光学式表面轮廓扫描系统在审
申请号: | 201410790415.3 | 申请日: | 2014-12-18 |
公开(公告)号: | CN105758329A | 公开(公告)日: | 2016-07-13 |
发明(设计)人: | 林原志;侯博勋 | 申请(专利权)人: | 财团法人金属工业研究发展中心 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 贾磊 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是关于一种光学式表面轮廓扫描系统,包含一光源装置、一干涉反射镜、一第一分光镜与一影像处理装置,该光源装置发出一检测光束,该第一分光镜将该检测光束同时投射到一待测物表面与该干涉反射镜而分别产生反射,该检测光束投射于该待测物的表面与该干涉反射面的反射在该第一分光镜中产生干涉后,该第一分光镜投射该待测物表面干涉影像给第一取像装置,该影像处理装置通过该第一取像装置接收该待测物表面干涉影像,并将该待测物表面干涉影像与一参考干涉影像相减而得到一差异影像,参照该差异影像以建立该待测物的表面轮廓。本发明以非接触方式进行待测物表面轮廓测量,自然不会刮伤待测物,且因不使用探针,自然不会有探针所衍生出的成本。 | ||
搜索关键词: | 光学 表面 轮廓 扫描 系统 | ||
【主权项】:
一种光学式表面轮廓扫描系统,其特征在于,包含有:一光源装置,发出一检测光束;一干涉反射镜,具有一干涉反射面;一第一分光镜,设于该检测光束的光路中,将该检测光束同时投射到一待测物的表面与该干涉反射镜的干涉反射面而分别产生反射,其中该检测光束投射于该待测物的表面与该干涉反射面的反射在该第一分光镜中产生干涉后,该第一分光镜通过一输出光路投射该待测物表面干涉影像;一第一取像装置,设于该第一分光镜的输出光路中,以从该第一分光镜接收该待测物表面干涉影像;以及一影像处理装置,电连接该第一取像装置并存储有一参考干涉影像,该影像处理装置接收该待测物表面干涉影像,将该待测物表面干涉影像与该参考干涉影像相减而得到一差异影像,参照该差异影像以建立该待测物的表面轮廓。
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