[发明专利]晶体硅纳米孔阵列材料及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201410790995.6 申请日: 2014-12-17
公开(公告)号: CN104505408A 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 秦晓梅;张栋;程传伟;石旺舟 申请(专利权)人: 上海师范大学
主分类号: H01L31/0236 分类号: H01L31/0236;H01L31/18
代理公司: 上海申新律师事务所31272 代理人: 周云
地址: 200234 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明晶体硅纳米孔阵列材料及其制备方法,具体指一种工艺简单、具有大面积的、周期性的纳米尺寸的空阵列晶体硅材料的制备技术,涉及周期性纳米结构半导体器件制备技术领域。材料为厚度400~500μm,单面抛光的晶体硅,纳米孔径为200~500nm,孔径间距500nm,空洞深度可控范围500~1500nm。包括准备晶体硅预刻蚀样品,制备单层聚苯乙烯纳米球,缩小聚苯乙烯纳米球尺寸,沉积金属镍,去除聚苯乙烯纳米球和刻蚀硅片,去除金属镍,去离子水冲净,然后用N2吹干等步骤。本发明通过自组装单层聚苯乙烯纳米球制备金属镍膜,以此为掩膜用于反应离子刻蚀。相较电化学腐蚀,得到孔径更规则统一,可保证大面积周期性等优点。
搜索关键词: 晶体 纳米 阵列 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
一种晶体硅周期性纳米孔阵列材料,其特征在于,包含基于晶体硅衬底,厚度为400~500nm,单面抛光,结合纳米球光刻与反应离子刻蚀在硅片抛光面制备纳米孔阵列。
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