[发明专利]单狭缝空间载波剪切散斑干涉测量系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 201410798529.2 申请日: 2014-12-19
公开(公告)号: CN104482875A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 王永红;冯家亚;王鑫;刘莹雪;杨连祥 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16;G01B11/02;G01N21/88
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人: 何梅生
地址: 230009 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种单狭缝空间载波剪切散斑干涉测量系统及测量方法,其特征是:激光器出射的激光经过扩束镜之后以扩散光的形式照射被测物,被测物的表面漫反射光依次经过成像镜头、狭缝光阑、4f系统以及迈克尔逊型装置投射在CCD相机的靶面上。本发明可以对被测物表面的缺陷和应力形变进行无损、全场、快速、动态测量,且便于现场测量。
搜索关键词: 狭缝 空间 载波 剪切 干涉 测量 系统 测量方法
【主权项】:
一种单狭缝空间载波剪切散斑干涉测量系统,其特征是:激光器(1)出射的激光经过扩束镜(2)之后以扩散光的形式照射被测物(3),所述被测物(3)的表面漫反射光依次经过成像镜头(4)、狭缝光阑(5)、4f系统(6)以及迈克尔逊型装置(7)投射在CCD相机(8)的靶面上。
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