[发明专利]测量销的尺寸和测量销的位置度公差的获取方法

摘要

本发明提供了一种测量销的尺寸和测量销的位置度公差的获取方法，测量销用于确定待测孔的位置度是否符合要求，测量销的尺寸包括测量销的名义尺寸和测量销的尺寸偏差，获取方法包括：获取待测孔的实效尺寸以及测量销的总公差；获取待测孔的实效尺寸以及测量销的直径公差；通过待测孔的实效尺寸以及测量销的总公差确定测量销的名义尺寸；通过测量销的名义尺寸及测量销的尺寸偏差确定测量销的尺寸；通过测量销的总公差，及测量销的直径公差确定测量销的位置度公差。本发明的技术方案解决了现有技术中设计人员靠经验来对测量销的尺寸和测量销的位置度公差进行取值，经验取值具有不确定性的问题。

主权项

1.一种测量销的尺寸和测量销的位置度公差的获取方法，所述测量销用于确定待测孔的位置度是否符合要求，用于零件检验表面有最大实体要求时的尺寸的精度检测，其特征在于，测量销的尺寸包括测量销的名义尺寸和测量销的尺寸偏差，得到测量销的名义尺寸的方法，包括以下两种：第一种得到测量销名义尺寸的方法通过如下公式得到：公式1：A＝B+C/2+D；其中，A为测量销的名义尺寸，B为待测孔的实效尺寸，C为测量销的直径公差，D为测量销的位置度公差；其中，测量销的位置度公差通过以下公式获得：公式2：D＝(E‑C)/2；其中，D为测量销的位置度公差，E为测量销的总公差，C为测量销的直径公差；第二种得到测量销名义尺寸的方法通过如下公式得到：公式3：A＝(B+F)/2；其中，A为测量销的名义尺寸，F为测量销的实效尺寸，其中，测量销的实效尺寸通过以下公式得到：公式4：F＝B+E；其中，B为待测孔的实效尺寸，E为测量销的总公差，得到测量销的名义尺寸后，还要获取测量销的位置度公差，测量销的位置度公差通过公式2得到；在通过方法一和方法二得到测量销的名义尺寸以及测量销的位置度公差后，需要确定测量销的尺寸偏差，测量销的尺寸偏差满足测量销的上偏差的绝对值和下偏差的绝对值之和等于测量销的直径公差；上述公式中，孔的实效尺寸为计算值，根据现有技术，零件的实效尺寸是在零件具有最大实体尺寸要求的前提下提出的尺寸，对于孔而言，实效尺寸计算公式为：公式5：B＝G+H‑I；其中，B为待测孔的实效尺寸，G为待测孔的名义尺寸，H为待测孔的下偏差，I为待测孔的位置度；其中，在公式5中，孔的位置度根据孔的尺寸差异和精度要求的不同具有不同的取值，孔的位置可以在现有技术中获取；获取所述待测孔的实效尺寸以及所述测量销的总公差；通过所述待测孔的位置度确定所述测量销的总公差；在上述公式中，测量销的直径公差的取值和测量销的总公差的取值和待测孔的位置度有关，具体为：待测孔的位置度a满足0mm＜a≤0.05mm时，测量销直径公差取0.005mm，测量销的总公差取孔的位置度数值的60％；待测孔的位置度a满足0.05mm＜a≤00.1mm时，测量销直径公差取0.01mm，测量销的总公差取孔的位置度数值的50％；待测孔的位置度a满足0.01mm＜a≤0.15mm时，测量销直径公差取0.01mm，测量销的总公差取孔的位置度数值的40％；待测孔的位置度a满足0.15mm＜a≤0.25mm时，测量销直径公差取0.01mm，测量销的总公差取孔的位置度数值的30％；待测孔的位置度a满足0.25mm＜a≤0.5mm时，测量销直径公差取0.01mm，测量销的总公差取孔的位置度数值的20％；待测孔的位置度a满足a＞0.5mm时，测量销直径公差取0.02mm，测量销的总公差取孔的位置度数值的20％；上述关系中，如果产品待测孔的位置度为边界值，则处于考虑取保险值的情况下，测量销的总公差取较小百分比的数值，同时测量销的直径公差取和测量销总公差对应的取值；获取所述待测孔的实效尺寸以及所述测量销的直径公差；通过所述待测孔的实效尺寸以及所述测量销的总公差确定所述测量销的名义尺寸；通过所述测量销的名义尺寸及所述测量销的尺寸偏差确定所述测量销的尺寸；通过所述测量销的总公差，及测量销的直径公差确定所述测量销的位置度公差；只需得到待测孔的实效尺寸以及上述关系，能够得到测量销的尺寸和测量销的位置度公差，根据测量销的尺寸和测量销的位置度公差加工制造的测量销就能够测量被测孔的位置度精度。