[发明专利]一种相控阵传感器的卫星标校方法在审

专利信息
申请号: 201410801509.6 申请日: 2014-12-22
公开(公告)号: CN104535976A 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 郭佳意;钮俊清;邓有银;魏文博;刘二小 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40;G06F19/00;G01S19/14
代理公司: 合肥金安专利事务所 34114 代理人: 吴娜
地址: 230088 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种相控阵传感器的卫星标校方法,包括:根据传感器的工作模式选择相应的标校策略;若传感器采用定方位工作模式则采取静态标校策略:对传感器进行定方位静态标校,任务结束则传感器卫星标校完成;若传感器采用随动观测的工作模式,则采取随动标校策略:先对传感器进行全方位动态标校;在传感器随动工作的方位区间内,按6~10度方位间隔取一系列标校点;在每一个标校点上分别对传感器进行定方位静态标校,任务结束则传感器卫星标校完成。本发明针对传感器的结构特点和工作模式,分别采用对应的系统误差标校模式和误差模型,在工作时可按工作模式采用相应的标校方法,不仅可显著提高了标校效率,还可有效提高传感器的量测精度。
搜索关键词: 一种 相控阵 传感器 卫星 校方
【主权项】:
一种相控阵传感器的卫星标校方法,其特征在于:该方法包括下列顺序的步骤:(1)根据传感器的工作模式选择相应的标校策略;(2)若传感器采用定方位工作模式则采取静态标校策略:对传感器进行定方位静态标校,任务结束则传感器卫星标校完成;(3)若传感器采用随动观测的工作模式,则采取随动标校策略:首先对传感器进行全方位动态标校,以标校结果作为基本参照;其次,在传感器随动工作的方位区间内,按6~10度方位间隔取一系列标校点;最后,在每一个标校点上分别对传感器进行定方位静态标校,任务结束则传感器卫星标校完成。
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