[发明专利]一种激光熔覆再制造零件缺陷类型超声检测分析方法在审
申请号: | 201410802185.8 | 申请日: | 2014-12-21 |
公开(公告)号: | CN104515810A | 公开(公告)日: | 2015-04-15 |
发明(设计)人: | 董世运;徐滨士;闫晓玲;朱学耕 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军装甲兵工程学院 |
主分类号: | G01N29/12 | 分类号: | G01N29/12 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人: | 沈波 |
地址: | 100072 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种激光熔覆再制造零件缺陷类型超声检测分析方法,将超声纵波探头放在激光熔覆再制造零件表面上,设置采样系统的增益参数;在零件表面上移动探头;采集扫查到的缺陷回波信号,并将其传输到信号分析系统中,将纵波直探头更换为小角度纵波探头,在零件表面上移动探头,再次采集扫查到的缺陷回波信号,并将其传输到信号分析系统中;再次更换小角度纵波探头,采集扫查到的缺陷回波信号,并将其传输到信号分析系统中;利用信号分析系统,分别对三次采集的缺陷信号作快速傅立叶(fft)变换处理,得到三种检测方式下缺陷回波信号的频谱分析图;通过观察缺陷回波频谱形状以及是否与超声波检测方向相关联,关联的紧密程度来区分缺陷的类型。 | ||
搜索关键词: | 一种 激光 熔覆再 制造 零件 缺陷 类型 超声 检测 分析 方法 | ||
【主权项】:
一种激光熔覆再制造零件缺陷类型超声检测分析方法,其特征在于:应用于至少包括超声脉冲发射接收仪(1)、采样系统(2)、数字示波器(3)、信号分析系统(4)以及超声纵波探头(5)的检测装置中,该方法包括,步骤1)、将超声纵波探头5放在激光熔覆再制造零件表面上,使超声波声束传播方向与激光熔覆层中晶粒的取向平行或垂直,设置采样系统(2)的增益参数,使数字示波器(3)上显示的第一次接收的底波信号幅值为满屏的80%;步骤2)、在零件表面上移动探头,移动速度不应超过150mm/s,对零件内部缺陷进行扫查;步骤3)、观察数字示波器(3)上显示的回波信号,当出现缺陷回波信号时,利用采样系统(2)中的时间闸门采集缺陷回波信号,并将采集到的信号传输到信号分析系统(4)中;步骤4)、更换探头,采用小角度纵波探头,纵波入射角度αL小于第一临界角αI,(cl1为第一介质有机玻璃中纵波传播速度,cl2为第二介质激光熔覆层中纵波传播速度),为了保证检测效果,减少激光熔覆再制造零件中折射横波的成分,本发明中采用的纵波探头入射角度αL的取值范围为5°~9°;采用步骤3)的方法采集扫查到的缺陷回波信号,并将其传输到信号分析系统(4)中;步骤5)、再次更换探头,采用入射角度不同于步骤(4)的小角度纵波探头(入射角度αL的取值范围为5°~9°),采用步骤3)的方法采集扫查到的缺陷回波信号,并将其传输到信号分析系统4中;步骤6)、利用信号分析系统4,分别对步骤3)、步骤4)、步骤5)采集的信号作快速傅立叶(fft)变换处理,fft变换的原理为:设x(n)(n=0,1,…,N‑1)为采集到的缺陷回波信号,则对应的快速傅立叶变换为:X(k)=Σn=0N-1x(n)e-j2πNnk=Σn=0N-1x(n)WNnk,]]>其中,具有对称性和周期性,即:WNk(N-n)=WN-kn]]>通过快速傅立叶(fft)变换,得到三种检测方式下缺陷回波信号的频谱分析图;通过观察缺陷回波频谱形状以及是否与超声波检测方向相关联,关联的紧密程度来区分缺陷的类型。
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