[发明专利]空间效应试验板、试验系统以及测试器件空间效应的方法有效
| 申请号： | 201410803572.3 | 申请日： | 2014-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN104483574A | 公开（公告）日： | 2015-04-01 |
| 发明（设计）人： | 徐宏祥;周刚;王鹏;秦旭军;孙烁;杨兴 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十七研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 方挺;葛强 |
| 地址： | 110032 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本申请提供一种空间效应试验板，包括处理器、与所述处理器关联的控制模块、与所述控制模块关联的检测模块、以及与所述检测模块和所述控制模块关联的用于承载Flash型FPGA器件的适配器，处理器根据主控单元的指令向所述控制模块发出相应的测试信号，控制模块根据该测试信号激励适配器承载的Flash型FPGA器件，并控制检测模块获取适配器承载的Flash型FPGA器件的输出电流信息/逻辑编码，检测模块将获取到的电流信息/逻辑编码传输至处理器，并经处理器处理后反馈至主控单元。另外，本申请还公开了一种空间效应试验系统和测试Flash型FPGA器件空间效应的方法。其可以准确地记录被测Flash型FPGA器件在何时发生了单粒子闩锁或单粒子翻转。能够帮助试验人员有效地评估被测Flash型FPGA器件的性能。 | ||
| 搜索关键词： | 空间 效应 试验 系统 以及 测试 器件 方法 | ||
【主权项】：
一种空间效应试验板，能够与主控单元连接，其特征在于，包括：处理器；与所述处理器关联的控制模块；与所述控制模块关联的检测模块；以及与所述检测模块和所述控制模块关联的用于承载Flash型FPGA器件的适配器；其中，所述处理器根据所述主控单元的指令向所述控制模块发出相应的测试信号，所述控制模块根据该测试信号激励所述适配器承载的Flash型FPGA器件，并控制所述检测模块获取所述适配器承载的Flash型FPGA器件的输出电流信息/逻辑编码，所述检测模块将获取到的电流信息/逻辑编码传输至所述处理器，并经所述处理器处理后反馈至所述主控单元。
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