[发明专利]一种磁力显微镜差分磁力显微成像方法在审
申请号: | 201410809108.5 | 申请日: | 2015-08-04 |
公开(公告)号: | CN104502635A | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 王作斌;王莹;刘劲芸;侯丽伟;董莉彤;宋正勋;翁占坤 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
主分类号: | G01Q60/50 | 分类号: | G01Q60/50 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 成金玉;孟卜娟 |
地址: | 130022 *** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种磁力显微镜差分磁力成像方法,差分磁力显微成像技术是一个两次对样品同一位置进行扫描磁力显微成像的过程。首先,经垂直磁化后的探针沿着形貌轨迹在离样品表面一定距离处进行扫描,然后在外磁场的作用下对同一探针进行反向磁化,再对样品同一位置进行第二次扫描。由于探针反磁化过程中只有探针与样品间受到的磁力方向发生改变,其它背景力,如静电力,范德华力等都保持原来的状态。通过对两次扫描获得磁力图形进行匹配准确定位,然后将获得准确位置信息的两幅磁力像相减运算,从而排除了其它力的干扰并获得了差分磁力图像,磁力图像的对比度和信噪比得到提高,并获得高质量的磁力图像。 | ||
搜索关键词: | 一种 磁力 显微镜 显微 成像 方法 | ||
【主权项】:
一种磁力显微镜差分磁力成像方法,其特征在于:采用外加磁场对同一探针进行两次相反方向的磁化并对样品的同一位置进行扫描,用图像匹配对两幅图像进行准确定位,然后将获得准确位置信息的两幅磁力像进行差分运算,排除背景力对磁力像的干扰,获得高质量的磁力像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长春理工大学,未经长春理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410809108.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电表箱机构
- 下一篇:ARHGAP26作为诊断动脉导管闭合或开放的标志物