[发明专利]一种离子电导率测试装置及采用其的测试方法有效
| 申请号： | 201410811333.2 | 申请日： | 2014-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN105759123B | 公开（公告）日： | 2017-11-14 |
| 发明（设计）人： | 孙公权;夏章讯;王素力 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 主分类号： | G01R27/14 | 分类号： | G01R27/14 |
| 代理公司： | 沈阳科苑专利商标代理有限公司21002 | 代理人： | 马驰 |
| 地址： | 116023 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种离子电导率测试装置，包括一电压/电流测试装置和一测试电极；所述测试电极包括一块体基底，于所述块体基底上设有线性排列的四个通孔，四根铂丝分别插入四个通孔内；于所述铂丝下端端面与块体基底下表面之间的通孔内部填充有离子导体聚合物。所述离子导体聚合物为全氟磺酸聚合物、磺化聚醚醚酮、季铵化聚砜、聚苯丙咪唑中的一种。所述离子电导率的测试装置可用于测量碳纸、碳粉、碳纤维、半导体、金属、聚合物中任一一种的离子电导率。所述测试装置检测离子电导率的方法包括离子电导的测量和数据处理两个步骤。所述测试装置和方法解决了电子导体中离子电导率难以测量的问题，测量结果较为准确，可反应材料中离子的电导特性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 离子 电导率 测试 装置 采用 方法 | ||
【主权项】：
一种离子电导率测试装置，其特征在于：包括一电压/电流测试装置和一测试电极；所述测试电极包括一块体基底，于所述块体基底上设有线性排列的四个通孔，四根铂丝分别插入四个通孔内，铂丝的上端处于块体基底外部，铂丝的下端处于块体基底内部，所述线性排列是指四根铂丝的轴线处于同一平面上，四根铂丝相互平行；所述铂丝下端端面与块体基底下表面的距离为0.1‑2mm之间，于所述铂丝下端端面与块体基底下表面之间的通孔内部填充有离子导体聚合物，且Nafion聚合物固体完全覆盖铂丝端面；所述测试电极中从左至右的第2、3根铂丝与电压/电流测试装置中的电压测试端连接，所述测试电极中从左至右的第1、4根铂丝与电压/电流测试装置中的电流测试端连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院大连化学物理研究所，未经中国科学院大连化学物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410811333.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
