[发明专利]触摸检测装置和半导体装置有效

专利信息
申请号: 201410812972.0 申请日: 2014-12-24
公开(公告)号: CN104765486B 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: 赤井亮仁;能登隆行 申请(专利权)人: 辛纳普蒂克斯日本合同会社
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/044
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 谢攀;陈岚
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及触摸检测装置和半导体装置。具有针对温度等环境变动而补正第一参数数据的第二参数数据,由此,能在中途不停止检测工作的情况下容易且高精度地进行校准电路的偏移调整。在触摸面板控制器,设置对与触摸面板的多个X电极对应的多个检测电路的输入信号实施偏移调整的校准电路,并且,设置除了规定校准电路的偏移调整工作的第一参数数据之外还存储用于对所述第一参数数据进行必要的补正的第二参数数据的存储装置。
搜索关键词: 触摸 检测 装置 半导体
【主权项】:
一种触摸检测装置,具备:触摸面板,呈矩阵状地配置多个Y电极和X电极;触摸面板控制器,基于相应于所述触摸面板的所述Y电极和所述X电极的交点电容而呈现于所述X电极的信号来生成相应于所述Y电极和所述X电极的每个交点的电容分布的检测数据;以及处理器,进行使用了从所述触摸面板控制器转送的所述检测数据的数据处理,其特征在于,所述触摸面板控制器,具备:多个检测电路,与所述多个X电极对应;校准电路,对各个所述检测电路的输入信号或输出信号实施偏移调整;以及存储装置,存储规定所述校准电路的偏移调整工作的第一参数数据和用于对所述第一参数数据进行必要的补正的第二参数数据。
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