[发明专利]一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法在审
| 申请号： | 201410813570.2 | 申请日： | 2014-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN104484274A | 公开（公告）日： | 2015-04-01 |
| 发明（设计）人： | 徐长亮;陈良华;杜彦魁 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 姜明 |
| 地址： | 250101 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法，属于内存的测试方法，其方法为使用ITP工具给内存注入ECC Error注错，模拟实际应用中内存出错情况，通过读取寄存器的值模拟实际应用中系统寄存器访问内存地址，来判断内存轮巡检查功能是否成功实现。本发明适用于带有XDP接口，支持Memory Patrol Scrub功能的X86服务器产品；操作简单，实用性较强，有效确保了服务器的可靠性和安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 itp 工具 内存 巡检 功能 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法，其特征在于使用ITP工具给内存注入ECC Error注错，模拟实际应用中内存出错情况，通过读取寄存器的值模拟实际应用中系统寄存器访问内存地址，来判断内存轮巡检查功能是否成功实现；具体包括如下步骤：（1）、准备好Windows测试平台；（2）、准备好Windows控制端平台；（3）、用ITP工具连接测试机和控制端平台；（4）、测试机上电开机，进入BIOS Setup界面；（5）、将内存轮巡检查设置为Enabled，同时设置巡检周期为1；（6）、保存设置后退出，重启测试机，待测试机进入Windows系统；（7）、控制端平台连接上测试机；（8）、控制端平台系统中打开Python控制台；（9）、Python控制台中输入指令，给某一内存的一个Rank注入单bit ECC Error；（10）、待注错结束后，查看相应内存中的ECC Error数目增加1；（11）、静置测试机的系统，无压力运行1小时；（12）、在控制端平台的Python控制台里输入指令，遍历内存地址；（13）、再输入指令，查看该内存中的ECC Error数目保持不变；（14）、再继续反复遍历内存地址，然后查看该内存中的ECC Error数目，发现ECC Error数目保持不变。
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